トランジスタ製造ばらつきにおけるチップ内特性変動を考慮した統計遅延解析手法
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概要
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本稿では, チップ内ばらつきを考慮した統計遅延解析手法について述べる.近年、トランジスタ特性におけるチップ内でのばらつきが、回路特性に大きな影響を与えることが指摘されている.歩留りを確保するためには, 製造ばらつきを考慮して, 必要十分な余裕度を持たせた設計をする必要がある.提案手法では, 実測したトランジスタ特性のばらつきに基づき, 現実的な最悪遅延を解析する.チップ内ばらつきモデルパラメータの抽出法について述べる.静的遅延解析(STA)のための, 参照テーブルを用いた応答曲面モデル(RSM)の作成手法を説明する.作成した応答曲面を用いて静的遅延解析によるモンテカルロシミュレーション行う方法を説明する.
- 2001-11-23
著者
-
藤田 智弘
立命館大学
-
岡田 健一
京都大学情報学研究科通信情報システム
-
小野寺 秀俊
京都大学大学院 情報学研究科 通信情報システム専攻
-
藤田 智弘
立命館大学理工学部電気電子工学科
-
岡田 健一
京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
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