トランジスタ特性におけるチップ内ばらつきのモデル化手法(<特集>システムLSIの設計技術と設計自動化)
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概要
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製造ばらつきを考慮した回路設計では,チップ間のばらつきのみならず,チップ内でのばらつきを考慮する必要がある.本稿では,チップ内ばらつきとチップ間ばらつきのモデル化,および,モデルパラメータの抽出手法を提案する.チップ内ばらつきをチップ間ばらつきから分離するのは困難であったが,電流値においてばらつき成分の分離を行い,チップ内ばらつきパラメータを抽出する.精度検証のために,リングオシレータの発振周波数ばらつきとの比較を行う.
- 2002-05-15
著者
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