ベクトル合成モデルによる集積回路遅延特性のワーストケース解析(<特集>電子システムの設計技術と設計自動化)
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概要
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CMOS集積回路の遅延時間の統計解析モデルとしてベクトル合成モデルを提案する.このモデルはプロセスばらつきの要因と遅延時間の関係をモデル化する.セルの遅延時間がトランジスタの電流特性に強く依存することを利用し, セルの遅延ばらつきを特長づける1次係数ベクトルを導入する.経路の遅延時間のモデルはこのベクトルを合成することで求めることができる.ベクトル合成モデルは簡単な構造を持つため, シミュレーションコストを抑えることができる利点を持つ.実験ではベクトル合成モデルを使ったワーストケース解析を行った.SPICEを使ったモンテカルロによるワーストケースと比べ誤差は5%程度であり, 従来手法のトランジスタの電流特性のワーストケースを使った解析の25%と比べて良い精度で解析を行えた.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 2000-04-15
著者
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