TEMによるGaN薄膜の評価 : 薄膜

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概要

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• 日本結晶成長学会の論文
• 1990-07-20

著者

• 赤崎 勇

  名城大学理工学研究科

• 赤崎 勇

  名大・工

• 沢木 宣彦

  名大・工学部

• 伊藤 茂稔

  名古屋大学工学部電子工学科

• 伊藤 茂稔

  名大・工

• 天野 浩

  名大・工

• 平松 和政

  名大・工

• 平松 和政

  三重大 工

• 沢木 宣彦

  名古屋大学工学部電子工学科

• 澤木 宣彦

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• 沢木 宣彦

  名大・工

• 平松 和政

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