V_T-V_<SUB>特性を用いたp-GaN上のAlGaN/GaN HFETバッファ層評価
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概要
- 論文の詳細を見る
- 2008-11-07
著者
-
杉本 雅裕
トヨタ自動車(株)
-
大野 泰夫
徳島大学
-
大野 泰夫
徳島大学ソシオテクノサイエンス研究部
-
大野 泰夫
徳島大学sts研
-
大野 泰夫
徳島大院ソシオテクノサイエンス研究部
-
敖 金平
徳島大学サテライトベンチャービジネスラボラトリ
-
敖 金平
徳島大学SVBL
-
敖 金平
徳島大学ソシオテクノサイエンス研究部
-
敖 金平
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
大野 泰夫
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
-
胡 成余
徳島大学
-
中谷 克俊
徳島大学
-
菊田 大悟
豊田中研
-
胡 成余
徳島大学ソシオテクノサイエンス研究部
-
杉本 雅裕
トヨタ自動車
-
大野 泰夫
徳島大 ソシオテクノサイエンス研究部
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