内田 建 | 東芝研究開発センター (株)東芝
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概要
関連著者
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内田 建
東芝研究開発センター (株)東芝
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古賀 淳二
東芝 研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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古賀 淳二
東芝研究開発センターlsi基盤技術研究所
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古賀 淳二
東芝
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大場 竜二
東芝研究開発センター
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大場 竜二
(株)東芝セミコンダクター社
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大場 竜二
東芝研究開発センターlsi基盤技術研究所
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内田 建
東京工業大学電子物理工学専攻:prest化学技術振興機構
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内田 建
(株)東芝 LSI基盤技術ラボラトリー
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古賀 淳二
(株)東芝 LSI基盤技術ラボラトリー
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大場 竜二
(株)東芝 LSI基盤技術ラボラトリー
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藤田 忍
東芝研究開発センター
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古賀 淳二
東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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内田 建
東芝研究開発センター
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安田 心一
東芝研究開発センター
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高木 信一
東京大学大学院 工学系研究科
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高木 信一
(株)東芝 LSI基盤技術ラボラトリー
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鳥海 明
(株)東芝 LSI基盤技術ラボラトリー
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棚本 哲史
(株)東芝研究開発センター
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齋藤 真澄
東芝研究開発センター
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内田 建
東京工業大学
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高木 信一
半導体miraiプロジェクト 超先端電子技術開発機構(aset)
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木下 敦寛
東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
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小林 茂樹
東芝研究開発センター
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齋藤 真澄
(株)東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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齋藤 真澄
東芝
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齋藤 真澄
(株)東芝 研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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八木下 淳史
(株)東芝 セミコンダクター社プロセス技術推進センター
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木下 敦寛
(株)東芝 研究開発センター LSI基盤技術ラボラトリー
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土屋 義則
(株)東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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八木下 淳史
(株)東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
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藤田 忍
(株)東芝研究開発センター
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沼田 敏典
(株)東芝 LSI基盤技術ラボラトリー
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棚本 哲史
東芝研究開発センター
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野崎 華恵
東芝研究開発センターコンピュータ・ネットワークラボラトリー
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野崎 華恵
(株)東芝研究開発センター
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野崎 華恵
東芝研究開発センター
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安田 心一
(株)東芝研究開発センター
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内田 建
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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棚本 哲史
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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古賀 淳二
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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大場 竜二
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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安田 心一
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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藤田 忍
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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沼田 敏典
半導体miraiプロジェクト 超先端電子技術開発機構(aset)
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藤田 忍
(株)東芝
著作論文
- 量子閉じ込め効果が薄膜SOI MOSFETの電気特性に与える影響について
- シリコン表面のセルフ・アンジュレーションを利用したサブミクロン単一電子素子
- SC-9-6 トンネル効果を利用したシリコン機能デバイス
- 暗号セキュリティ向け乱数生成回路用シリコンナノデバイス
- [招待講演]シリコン単電子素子とその応用
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- 不純物偏析ショットキー接合を用いた高駆動電流トランジスタの開発
- 不純物偏析を利用した低障壁ショットキートランジスタ(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
- 不純物偏析を利用した低障壁ショットキートランジスタ(VLSI回路,デバイス技術(高速,低電圧,低電力))
- High-κゲート絶縁膜を有するp-MOSFETにおけるドレイン電流の変動 : ゲート絶縁膜中トラップによる単一正孔の捕獲・放出の影響(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
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- 10nm以下の極薄膜ダブルゲートSOI p-FETにおける高移動度の実証 : 軽い正孔バンドの役割と一軸性応力エンジニアリングとの整合性(IEDM(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- 0.7nmの極薄膜SOIトランジスタ技術 (特集 イノベーションを支えるナノエレクトロニクス)
- シリコン表面のセルフ・アンジュレーションを利用したサブミクロン単一電子素子
- 高度情報セキュリティ向け超小型乱数生成回路 (特集 IT社会のセキュリティ技術)
- 超低消費電力LSIを実現する単一電子デバイス (特集1 ナノテクノロジー--幅広い分野をけん引する次世代材料デバイス技術)
- ショットキーソース/ドレインMOSFETにおけるソースサイドホットエレクトロン生成効率の向上
- CMOS結合型単一電子素子の研究開発 (特集 量子化機能素子プロジェクト)