安田 心一 | 東芝研究開発センター
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概要
関連著者
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藤田 忍
東芝研究開発センター
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安田 心一
東芝研究開発センター
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棚本 哲史
(株)東芝研究開発センター
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大場 竜二
東芝研究開発センター
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大場 竜二
(株)東芝セミコンダクター社
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大場 竜二
東芝研究開発センターlsi基盤技術研究所
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藤田 忍
(株)東芝
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藤田 忍
(株)東芝研究開発センター
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藤田 忍
大阪市立大学
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安部 恵子
東芝 研究開発センター
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内田 建
東芝研究開発センター (株)東芝
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安田 心一
(株)東芝研究開発センター
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安部 恵子
(株)東芝
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大場 竜二
(株)東芝 LSI基盤技術ラボラトリー
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野崎 華恵
(株)東芝研究開発センター
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野崎 華恵
東芝研究開発センター
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棚本 哲史
東芝研究開発センター
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古賀 淳二
東芝 研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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池上 一隆
東芝研究開発センター
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松本 麻里
東芝研究開発センター
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古賀 淳二
東芝研究開発センターlsi基盤技術研究所
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藤田 忍
大阪市立大学生活科学部居住環境学科
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古賀 淳二
東芝
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藤田 忍
(株)東芝 研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
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池川 純夫
(株)東芝研究開発センター
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與田 博明
(株)東芝
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内田 建
(株)東芝 LSI基盤技術ラボラトリー
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古賀 淳二
(株)東芝 LSI基盤技術ラボラトリー
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野崎 華恵
東芝研究開発センターコンピュータ・ネットワークラボラトリー
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新保 淳
(株)東芝研究開発センター
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内田 建
東芝研究開発センター
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安田 心一
株式会社東芝研究開発センター
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棚本 哲史
株式会社東芝研究開発センター
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大場 竜二
株式会社東芝研究開発センター
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安部 恵子
株式会社東芝研究開発センター
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野崎 華恵
株式会社東芝研究開発センター
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藤田 忍
株式会社東芝研究開発センター
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下村 尚治
(株)東芝
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安部 恵子
(株)東芝研究開発センター
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内田 建
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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棚本 哲史
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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古賀 淳二
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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大場 竜二
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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安田 心一
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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藤田 忍
(株)束芝LSI基盤技術ラボラトリー
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新保 淳
東芝研究開発センター
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新保 淳
東芝 研開セ
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藤崎 浩一
(株)東芝研究開発センター
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野村 久美子
東芝 研究開発センター
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藤田 忍
東芝 研究開発センター LSI基盤技術研究所
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新保 淳
(株)東芝研究開発センターコンピュータ・ネットワークラボラトリー
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下村 尚治
(株)東芝研究開発センター
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下村 尚治
東芝研究開発センター
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池川 純夫
東芝研究開発センター
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與田 博明
東芝 研開セ
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與田 博明
東芝エレクトロニクス韓国社
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松本 麻里
(株)東芝研究開発センター
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池川 純夫
東芝エレクトロニクス韓国社
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池上 一隆
東芝 研究開発センター
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安田 心一
東芝 研究開発センター
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小田 聖翔
東芝 研究開発センター
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藤田 忍
株式会社東芝 研究開発センター
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安部 恵子
株式会社東芝 研究開発センター
著作論文
- 情報セキュリティ向け超小型物理乱数生成回路(回路技術(一般, 超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチャ))
- C-12-43 SiN MOSFETと論理ゲートから構成される物理乱数生成回路(C-12. 集積回路ABC(測定・評価),一般セッション)
- 12pYC-9 量子細線脇におかれた量子ドットの伝導に与える効果(量子細線, 領域 4)
- 暗号セキュリティ向け乱数生成回路用シリコンナノデバイス
- [招待講演]シリコン単電子素子とその応用
- [招待講演]シリコン単電子素子とその応用
- DPAマスク対策における乱数の影響について
- ポストCMOSのための新ナノアーキテクチャ (特集 ナノテクノロジー)
- 高度情報セキュリティ向け超小型乱数生成回路 (特集 IT社会のセキュリティ技術)
- セキュリティネットワークを支える物理乱数生成技術[IV] : 先端半導体デバイスを用いた物理乱数生成回路
- D-18-2 FPGA応用を目指した不揮発メモリ特性の回路性能評価による設計(D-18.リコンフィギャラブルシステム,一般セッション)