シリコンナノピンセットとマイクロ流体デバイスによるDNA放射線損傷のリアルタイム測定
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概要
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放射線癌治療をより効果的にするため,放射線によるDNA損傷の機構の解明が必要である.本研究ではMEMS ピンセットを道具として,X線が与えるDNA損傷を実時間で測定することを可能にした.DNA分子束を捕獲したMEMSピンセットの共振周波数を測り,DNA分子束の硬さを判別できる.DNA分子の損傷はその硬さに影響するため,分子束の硬さの変化は損傷の進行程度を示す.また,リアルにより近づくために,マイクロ流体デバイスを用い,X線によるDNA束の損傷を水中で測定できた.本研究はDNA損傷測定の新手法であり,放射線治療を改善する可能がある.
- 東京大学生産技術研究所の論文
著者
-
榎本 敦
東京大学大学院医学系研究科放射線研究領域
-
藤田 博之
東京大学生産技術研究所
-
宮川 清
東京大学大学院医学系研究科疾患生命工学センター放射線分子医学
-
ジャラベール ロラン
東京大学生産技術研究所マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
-
コラール ドミニク
東京大学生産技術研究所マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
-
久米村 百子
東京大学生産技術研究所 マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
-
江 柏村
東京大学大学院 工学系研究科
-
ペレト グレグア
東京大学生産技術研究所 マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
-
ラフィト ニコラ
東京大学生産技術研究所 マイクロナノメカトロニクス国際研究センター
-
榎本 敦
東京大学大学院 医学院研究科 疾患生命センター
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