X線照射が与えるDNA損傷のMEMSピンセットによる評価
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概要
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- 2013-08-09
著者
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JALABERT Laurent
東京大学生産技術研究所
-
藤田 博之
東京大学生産技術研究所
-
久米村 百子
東京大学生産技術研究所
-
江 柏村
東京大学生産技術研究所
-
PERRET Gregoire
東京大学生産技術研究所
-
LAFITTE Nicolas
東京大学生産技術研究所
-
GUILLOU Herve
東京大学生産技術研究所
-
DOMINIQUE COLLARD
東京大学生産技術研究所
-
LACOMERIE Thomas
Centre Oscar Lambret, University of Lille 2
-
LARTIGAU Erid
Centre Oscar Lambret, University of Lille 2
-
CLERI Fabrizio
IEMN, UMR8520, CNRS, University of Lille 1
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