27aRE-7 陽電子プローブマイクロアナライザーを用いた高分子中の陽電子寿命測定(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2009-03-03
著者
-
上殿 明良
筑波大数理
-
上殿 明良
筑波大学電子物理工学系
-
大島 永康
産総研
-
鈴木 良一
産総研
-
大平 俊行
産総研
-
木野村 淳
産総研
-
藤浪 真紀
千葉大院工
-
鳴海 貴允
筑波大数理
-
岡 壽崇
千葉大院工
-
大島 永康
産業技術総合研究所
-
大島 永康
東大 大学院
-
鈴木 良一
産業技術総合研究所
-
上殿 明良
筑波大学・物理工学系
-
大平 俊行
産業総合技術研究所計測フロンティア研究部門
-
藤波 真紀
新日鉄先端技術研
-
大島 永康
理化学研究所
-
上殿 明良
筑波大学物理工学系
-
木野村 淳
産業技術総合研究所
-
木野 村淳
産総研
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