岡 壽崇 | 千葉大院工
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概要
関連著者
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藤浪 真紀
千葉大院工
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岡 壽崇
千葉大院工
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藤波 真紀
新日鉄先端技術研
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神野 智史
千葉大院工
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栗原 俊一
高エ研
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井上 雅夫
日本電子
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村谷 孝博
千葉大院工
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大塚 岳志
日本電子
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松谷 幸
日本電子
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上殿 明良
筑波大数理
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上殿 明良
筑波大学電子物理工学系
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大島 永康
産総研
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鈴木 良一
産総研
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大平 俊行
産総研
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木野村 淳
産総研
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鳴海 貴允
筑波大数理
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河島 祐二
千葉大院工
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大島 永康
産業技術総合研究所
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大島 永康
東大 大学院
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鈴木 良一
産業技術総合研究所
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上殿 明良
筑波大学・物理工学系
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斎藤 祐太
千葉大院工
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大平 俊行
産業総合技術研究所計測フロンティア研究部門
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大島 永康
理化学研究所
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上殿 明良
筑波大学物理工学系
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木野村 淳
産業技術総合研究所
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木野 村淳
産総研
著作論文
- 27aRE-7 陽電子プローブマイクロアナライザーを用いた高分子中の陽電子寿命測定(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 29pRB-4 RIを陽電子源とした陽電子プローブマイクロアナライザーによる空孔二次元分布計測(29pRB 格子欠陥・ナノ構造(金属・陽電子・水素・炭素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27aRE-10 透過型陽電子顕微鏡における像質改善の取組(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 21pWA-8 透過型陽電子顕微鏡を用いた像観察(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))