藤波 真紀 | 新日鉄先端技術研
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概要
関連著者
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藤波 真紀
新日鉄先端技術研
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藤浪 真紀
千葉大院工
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長谷川 雅幸
東北大金研
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山口 貞衛
千葉工業大学工学部
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山口 貞衛
東北大金研
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神野 智史
千葉大院工
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田畑 誠
東北大金研
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伊藤 泰男
東大原総セ
-
伊藤 泰男
東大原総センター
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大平 俊行
産総研
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岡 壽崇
千葉大院工
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栗原 俊一
高エ研
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真安 正明
東北大金研
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藤浪 真紀
新日鐵先端研
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鈴木 茂
東北大学多元物質科学研究所
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上殿 明良
筑波大数理
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上殿 明良
筑波大学電子物理工学系
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大島 永康
産総研
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鈴木 良一
産総研
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木野村 淳
産総研
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鈴木 茂
東北大多元研
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河島 祐二
千葉大院工
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大島 永康
産業技術総合研究所
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鈴木 良一
産業技術総合研究所
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上殿 明良
筑波大学・物理工学系
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村谷 孝博
千葉大院工
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大平 俊行
産業総合技術研究所計測フロンティア研究部門
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大島 永康
理化学研究所
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上殿 明良
筑波大学物理工学系
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木野村 淳
産業技術総合研究所
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木野 村淳
産総研
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打越 雅仁
東北大多元研
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鳴海 貴允
筑波大数理
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千葉 利信
東北大学金属材料研究所
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唐 政
東北大金研
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大島 永康
東大 大学院
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赤羽 隆史
物材機構
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井上 雅夫
日本電子
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岡田 漱平
原研高崎
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岡田 漱平
日本原子力研究所・高崎
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大塚 岳志
日本電子
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松谷 幸
日本電子
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川口 拓未
千葉大院工
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小熊 幸一
千葉大院工
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原 憲太
千葉大院工
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小野 円佳
東工大応セラ研
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伊藤 節郎
東工大応セラ研
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宮本 哲史
東北大金研
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須永 博美
日本原子力研究所高崎研究所
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Xingzhong Cao
高エ研
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野中 聡
旭川医科大学耳鼻咽喉科・頭頸部外科学講座
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野中 誠
昭和大学藤が丘病院呼吸器外科
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野中 作太郎
九州電気専門学校
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窪田 翔二
筑波大数理
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渡邉 宏理
筑波大数理
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藤浪 真紀
干葉大院工
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鈴木 良一
電総研
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大平 俊行
電総研
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三角 智久
電総研
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長嶋 泰之
東理大院理
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一色 実
東北大多元研
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永井 康介
東北大金研
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長嶋 泰之
東理大理
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須永 博美
原研高崎
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小野 円佳
東大新領域
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斎藤 祐太
千葉大院工
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三角 智久
産総研
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一色 実
東北大工
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Isshiki Minoru
Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials Tohoku University
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須長 博美
原研高崎
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藤浪 真紀
新日鐡先端技研
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千葉 利信
東北大無機材研
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打越 雅仁
東北大学多元物質科学研究所
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一色 実
東北大選研
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藤浪 真紀
新日鉄先端研
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原 憲太
東工大応セラ研
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Isshiki Minoru
Inst. Of Multidisciplinary Res. For Advanced Materials Tohoku Univ.
著作論文
- 20aHT-7 陽電子プローブマイクロアナライザーによる延伸鉄試料の欠陥評価(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 20aHT-6 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した鉄-銅合金の欠陥分布計測(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 27aRE-7 陽電子プローブマイクロアナライザーを用いた高分子中の陽電子寿命測定(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 23pVE-10 陽電子プローブマイクロアナライザーによる欠陥分布の観察(23pVE 格子欠陥・ナノ構造(光物性・微粒子・水素・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 28pYK-7 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した鉄系試料の欠陥分布計測(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 29pRB-4 RIを陽電子源とした陽電子プローブマイクロアナライザーによる空孔二次元分布計測(29pRB 格子欠陥・ナノ構造(金属・陽電子・水素・炭素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 「陽電子の分子への付着過程:PET(陽電子断層撮影法)の基礎として」に対するコメント(会員の声)
- 8p-S-9 陽電子消滅法による石英ガラス、メタミクトガラス、結晶石英の構造と照射欠陥の研究
- 27aRE-10 透過型陽電子顕微鏡における像質改善の取組(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 21pWA-8 透過型陽電子顕微鏡を用いた像観察(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 25aWZ-4 ポジトロニウム挙動による石英ガラスの構造解析(25aWZ X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 2p-YC-7 中性子、電子およびレーザー照射した石英の陽電子消滅II
- 29a-YG-10 中性子、電子およびレーザ照射した石英の陽電子消滅
- 30p-E-15 石英ガラス中の照射欠陥による陽電子捕獲
- 石英ガラス中の放射線照射によって生ずる陽電子捕獲欠陥
- 陽電子消滅およびESR測定法による石英ガラス中の照射欠陥の研究
- 30a-YK-8 陽電子消滅および電子スピン共鳴法による石英ガラスならびに水晶中の照射欠陥
- 22pTC-7 陽電子マイクロプローブによるイメージング(領域10シンポジウム主題:X線・電子線による回折イメージングの最前線,領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 26aYF-4 線形加速器による陽電子源を用いた透過型陽電子顕微鏡の開発(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 21aTC-9 透過型陽電子顕微鏡における陽電子マイクロビーム源の開発(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 30p-YK-1 陽電子ビームによるSi中水素関与欠陥の挙動研究
- 14a-A-4 照射された結晶および非晶質石英中の陽電子消滅
- 28pTJ-7 陽電子消滅法によるシリカガラスとソーダライムガラスの空隙検出(28pTJ 格子欠陥・ナノ構造(金属・転位・点欠陥,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))