28pTJ-7 陽電子消滅法によるシリカガラスとソーダライムガラスの空隙検出(28pTJ 格子欠陥・ナノ構造(金属・転位・点欠陥,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 2011-03-03

著者

• 藤浪 真紀

  千葉大院工

• 原 憲太

  千葉大院工

• 小野 円佳

  東工大応セラ研

• 伊藤 節郎

  東工大応セラ研

• 藤波 真紀

  新日鉄先端技術研

• 原 憲太

  東工大応セラ研

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