29pRB-4 RIを陽電子源とした陽電子プローブマイクロアナライザーによる空孔二次元分布計測(29pRB 格子欠陥・ナノ構造(金属・陽電子・水素・炭素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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概要

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• 2009-03-03

著者

• 藤浪 真紀

  千葉大院工

• 岡 壽崇

  千葉大院工

• 神野 智史

  千葉大院工

• 河島 祐二

  千葉大院工

• 斎藤 祐太

  千葉大院工

• 藤波 真紀

  新日鉄先端技術研

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