30a-YK-8 陽電子消滅および電子スピン共鳴法による石英ガラスならびに水晶中の照射欠陥

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人日本物理学会の論文
• 1998-03-10

著者

• 藤浪 真紀

  千葉大院工

• 長谷川 雅幸

  東北大金研

• 千葉 利信

  東北大学金属材料研究所

• 唐 政

  東北大金研

• 伊藤 泰男

  東大原総セ

• 伊藤 泰男

  東大原総センター

• 山口 貞衛

  千葉工業大学工学部

• 山口 貞衛

  東北大金研

• 真安 正明

  東北大金研

• 藤浪 真紀

  新日鐵先端研

• 藤波 真紀

  新日鉄先端技術研

• 千葉 利信

  東北大無機材研

関連論文

• 22pHT-4 ナノ構造変化の解明に基づいた原子炉材料の劣化予測の重要性(22pHT 領域10シンポジウム:グリーンテクノロジーにおける格子欠陥・ナノ構造の役割,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 20aHT-7 陽電子プローブマイクロアナライザーによる延伸鉄試料の欠陥評価(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 20aHT-6 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した鉄-銅合金の欠陥分布計測(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27aRE-7 陽電子プローブマイクロアナライザーを用いた高分子中の陽電子寿命測定(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 23pVE-10 陽電子プローブマイクロアナライザーによる欠陥分布の観察(23pVE 格子欠陥・ナノ構造(光物性・微粒子・水素・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• ダイバータヒートシンクCu-Cr-Zr合金における析出物の3DAP観察
• 28pYK-7 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した鉄系試料の欠陥分布計測(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 29pRB-4 RIを陽電子源とした陽電子プローブマイクロアナライザーによる空孔二次元分布計測(29pRB 格子欠陥・ナノ構造(金属・陽電子・水素・炭素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 21aRB-5 ポリSiゲート中の不純物原子の粒界偏析の3次元観察(21aRB 格子欠陥・ナノ構造(半導体・シミュレーション),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 24pYF-13 3次元アトムプローブによるゲート酸化膜/シリコン基板界面へのAs原子偏析の観察(格子欠陥・ナノ構造(半導体),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 29pRB-2 中性子照射したFe-CuおよびFe-Cu-Mnモデル合金中の陽電子消滅温度依存性(29pRB 格子欠陥・ナノ構造(金属・陽電子・水素・炭素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 27aRB-3 陽電子消滅法による低温電子線照射したSi-Ge単結晶中の空孔型欠陥の回復挙動(27aRB 格子欠陥・ナノ構造(半導体・シミュレーション),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 陽電子量子ドット閉じ込めを利用したFe中Cuナノ析出物の寸法評価法の開発(分析・解析)
• 24pYF-1 陽電子消滅法を用いた低温電子線照射したSi中の空孔型欠陥の低温測定(格子欠陥・ナノ構造(半導体),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 22pTD-3 電子スピン共鳴および陽電子消滅法による硼酸ガラス中の照射欠陥(格子欠陥・ナノ構造(金属・半導体),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 20aXC-5 イオン結晶および氷中のBloch-Psの2次元角相関運動量分布(X線・粒子線(陽電子消滅),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 20aXC-6 Fe中のCuナノ析出物への陽電子捕獲機構(X線・粒子線(陽電子消滅),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 25aXB-2 Fe-Cu合金中の陽電子拡散係数 : Cu濃度および測定温度依存性(25aXB 陽電子消滅・コンプトン散乱,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 30aXD-6 氷中Psの陽電子消滅2次元角相関(30aXD X線,粒子線(陽電子消滅),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 27pXD-3 低速陽電子ビーム装置を用いたFeおよびFe-Cu合金中の陽電子拡散係数測定(27pXD 格子欠陥・ナノ構造(金属・電子状態・シミュレーション),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 22aYM-1 シリカ基モデルガラス中におけるポジトロニウムに対する鉄イオンのクエンチング効果(格子欠陥・ナノ構造(陽電子・転位・面欠陥),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 26pYS-2 陽電子量子閉じ込めを利用した金属中埋込みナノクラスターの電子構造解析(X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
• 26pYS-2 陽電子量子閉じ込めを利用した金属中埋込みナノクラスターの電子構造解析(スクッテルダイトのフォノン物性,領域10,領域8合同招待講演)
• 14pTJ-5 ポジトロニウムで調べた SiO_2 基 2 成分系ガラス中の構造空隙(格子欠陥・ナノ構造, 領域 10)
• 14aTJ-9 埋め込みナノ微粒子のフェルミオロジー(格子欠陥・ナノ構造, 領域 10)
• 28aXT-1 陽電子消滅法による電子線照射Si中の空孔型欠陥の研究 : 電子線照射したFZ-SiのPの添加効果について(格子欠陥・ナノ構造)(領域10)
• 22aXA-12 ポジトロニウムをプローブとしたシリカ基ガラスの構造的空隙の測定
• 26pYK-10 原子炉圧力容器鋼の中性子照射によるナノ組織変化と照射硬化 : 低Cu監視試験片の照射後等時焼鈍(シミュレーション,転位,点欠陥・照射損傷),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 原子炉圧力容器鋼中ナノ炭化物の三次元アトムプローブ観察
• 「陽電子の分子への付着過程:PET(陽電子断層撮影法)の基礎として」に対するコメント(会員の声)
• 原子炉圧力容器鋼中の亜粒界におけるP等の偏析の3Dアトムプローブ観察
• 23pXB-6 陽電子消滅CDB法と3次元アトムプローブで探る金属ナノ組織と力学特性(領域10シンポジウム主題:エキゾチック粒子で探る物質ナノ構造と物性,領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 14a-A-5 電子線照射により原子複空孔を導入したSiの陽電子消滅2次元角相関
• 13a-DK-6 Si中の電子線照射誘起欠陥の焼鈍挙動 : 陽電子寿命測定法による分析
• 1a-X-7 電子線照射によって生じたシリコン中原子複空孔の陽電子捕獲
• 8p-S-9 陽電子消滅法による石英ガラス、メタミクトガラス、結晶石英の構造と照射欠陥の研究
• 27aRE-10 透過型陽電子顕微鏡における像質改善の取組(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 21pWA-8 透過型陽電子顕微鏡を用いた像観察(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 24aZD-6 実機原子炉圧力容器鋼中の照射損傷(24aZD 格子欠陥・ナノ構造(金属・半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 701 原子炉圧力容器鋼実機監視試験片の3次元アトムプローブおよび陽電子消滅解析(OS13(1) エネルギー機器構造物の劣化現象の理解と健全性評価)
• 27aXT-4 原子炉実機圧力容器鋼中の照射誘起Cu析出 : 陽電子消滅と3次元アトムプローブ(格子欠陥・ナノ構造)(領域10)
• 21aXA-2 陽電子消滅および 3 次元アトムプローブによる原子炉圧力容器鋼モデル合金中の照射誘起析出物の解析
• 陽電子消滅と3DAPによるAl(-Li)-Cu-Mg-Ag合金の時効析出初期における空孔-溶質複合体の解析
• 31pYG-1 陽電子消滅 2 次元角相関法による Si 中性複空孔のヤン・テラー効果の研究
• 25pYP-7 陽電子消滅同時計数ドップラー幅測定法によるB、BF_2注入Si中の欠陥の研究
• 30aXD-7 陽電子消滅法によるSi中不純物ゲッタリング挙動の研究(30aXD X線,粒子線(陽電子消滅),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 3p-Y-7 微粒子間空隙及び金属ボイド中のポジトロニウム
• 最新のナノ組織解析技術による脆化機構の解明--陽電子消滅法と3次元アトムプローブによる監視試験片の解析 (特集 原子炉圧力容器鋼照射脆化機構解明の最近の進歩)
• 圧力容器鋼モデル合金中の超微小Cu析出物の検出:陽電子消滅と3次元アトムプローブ (特集 より高い信頼性を求めた原子炉材料の最近の研究動向)
• 特集のはじめに (特集 より高い信頼性を求めた原子炉材料の最近の研究動向)
• 25aWZ-4 ポジトロニウム挙動による石英ガラスの構造解析(25aWZ X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 2p-NK-10 Mo-Si非晶質合金の中性子照射効果
• 20pXB-8 陽電子誘起イオン脱離の観測
• 29pXJ-5 イオン照射した鉄の同時計数ドップラー幅測定
• 27pXD-2 Fe-Cu-Mnモデル合金の照射損傷機構 : 陽電子消滅と局所電極3次元アトムプローブ(27pXD 格子欠陥・ナノ構造(金属・電子状態・シミュレーション),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 28a-T-11 C_/C_、HOPG、ガラス状炭素中の陽電子消滅
• 28a-ZP-3 C60/C70, HOPG等の炭素材料中の陽電子消滅
• 29p-ZE-6 バナジウム・ボイド中のポジトロニウム : 水素、炭素、酸素不純物の効果
• 28a-K-11 SiとSiCの陽電子消滅2次元角相関
• 25a-T-3 Si等における原子空孔の同時計数ドップラー広がり法による化学分析
• 30a-YC-10 SiCの陽電子消滅2次元角相関
• 2p-YC-7 中性子、電子およびレーザー照射した石英の陽電子消滅II
• 29a-YG-10 中性子、電子およびレーザ照射した石英の陽電子消滅
• 30p-E-15 石英ガラス中の照射欠陥による陽電子捕獲
• 石英ガラス中の放射線照射によって生ずる陽電子捕獲欠陥
• 陽電子消滅およびESR測定法による石英ガラス中の照射欠陥の研究
• 29p-B-16 バナジュウム・ポイド中に形成するポジトロニュムの低温反応
• 28a-E-3 100 MeV電子リニアックによる低速陽電子ビームの生成
• 29pXJ-4 陽電子消滅時間-運動量相関測定による Fe 中 Cu 析出初期過程の解明
• 28a-K-4 低速陽電子研究施設でのファーストビーム観察および立ち上げ状況
• 25a-T-5 黒鉛中原子空孔クラスターの陽電子消滅(II) : 実験
• 30a-YK-8 陽電子消滅および電子スピン共鳴法による石英ガラスならびに水晶中の照射欠陥
• Positron annihilation 2D-ACAR of perfect crystals and vacancies in Ge, Si and diamond
• 3p-Y-7 微粒子間空隙及び金属ボインド中のポジトロニウム
• 21aXA-1 低温照射した Fe-Cu モデル合金の陽電子消滅、電気抵抗測定による研究
• 29pXJ-6 Al 中の空孔-溶質複合体の陽電子消滅同時計数ドップラー広がり法による研究
• 22pTC-7 陽電子マイクロプローブによるイメージング(領域10シンポジウム主題:X線・電子線による回折イメージングの最前線,領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 29p-F-11 水素吸蔵Ni-Zr系アモルファス合金の陽電子消滅
• 25pA25p 高熱流束機器用タングステン合金製造条件の最適化(プラズマ基礎/炉材料)
• 31a-E-9 ダイヤモンドの陽電子消滅2次元角相関
• 22aYM-4 Fe-Cu-X(X=Mn,Ni,P)モデル合金中の照射誘起Cuクラスター : 陽電子消滅と3次元アトムプローブ(格子欠陥・ナノ構造(陽電子・転位・面欠陥),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 3DAP, 陽電子消滅, SANSによる6000系合金の復元BH過程における溶質クラスター挙動の解析
• 27p-H-8 Si中の複原子空孔の陽電子消滅法を用いた研究
• 27a-ZN-4 塑性変形した半導体の陽電子消滅
• 28a-K-10 陽電子消滅法によるSi中の複原子空孔の研究
• 1a-H-6 銅合金中の陽電子消滅(Cu-Mn 合金)
• 25p-A-8 バナジウム・ポイド中のポジトロニウム : 不純物酸素・炭素等の効果
• 19pXB-1 Si中のCuゲッタリングサイトの陽電子消滅(格子欠陥・ナノ構造(半導体・ナノ粒子・表面界面),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 3p-E-7 Ni微粒子の陽電子消滅
• 10a-R-7 貴金属微粒子の陽電子消滅
• 7a-P-3 V-D(H)中の陽電子消滅
• 26aYF-4 線形加速器による陽電子源を用いた透過型陽電子顕微鏡の開発(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 21aTC-9 透過型陽電子顕微鏡における陽電子マイクロビーム源の開発(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 陽電子消滅法による微細Cu析出物の解析
• 20aXC-7 静磁場輸送陽電子ビームのマイクロビーム化(X線・粒子線(陽電子消滅),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 30p-YK-1 陽電子ビームによるSi中水素関与欠陥の挙動研究
• 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した純鉄の空孔型欠陥マップ
• 28pTJ-7 陽電子消滅法によるシリカガラスとソーダライムガラスの空隙検出(28pTJ 格子欠陥・ナノ構造(金属・転位・点欠陥,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 29aXZB-6 KEK低速陽電子実験施設におけるビームライン整備と新しい測定装置(29aXZB 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 29aXZB-6 KEK低速陽電子実験施設におけるビームライン整備と新しい測定装置(29aXZB 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(電子線・陽電子),ビーム物理領域)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク