21aTC-9 透過型陽電子顕微鏡における陽電子マイクロビーム源の開発(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 社団法人日本物理学会の論文
- 2007-08-21
著者
-
藤浪 真紀
千葉大院工
-
神野 智史
千葉大院工
-
栗原 俊一
高エ研
-
赤羽 隆史
物材機構
-
川口 拓未
千葉大院工
-
小熊 幸一
千葉大院工
-
藤波 真紀
新日鉄先端技術研
-
Xingzhong Cao
高エ研
関連論文
- 20aHT-7 陽電子プローブマイクロアナライザーによる延伸鉄試料の欠陥評価(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 20aHT-6 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した鉄-銅合金の欠陥分布計測(20aHT 領域10 格子欠陥・ナノ構造(水素,ナノ粒子,金属),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 27aRE-7 陽電子プローブマイクロアナライザーを用いた高分子中の陽電子寿命測定(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 23pVE-10 陽電子プローブマイクロアナライザーによる欠陥分布の観察(23pVE 格子欠陥・ナノ構造(光物性・微粒子・水素・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 23aZF-7 TMU E-ringを用いた炭素負イオンクラスターの準安定状態の寿命測定(23aZF 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 28pYK-7 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した鉄系試料の欠陥分布計測(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 29pRB-4 RIを陽電子源とした陽電子プローブマイクロアナライザーによる空孔二次元分布計測(29pRB 格子欠陥・ナノ構造(金属・陽電子・水素・炭素),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 27p-H-10 東大電子ライナックにおけるプラズマレンズ実験
- 18aTH-4 デジタルオシロスコープを用いた新しい陽電子寿命測定装置
- デジタルオシロスコープを用いた新しい陽電子寿命測定装置 (「陽電子ビームの形成と理工学への応用」専門研究会報告書 平成13年度)
- 「陽電子の分子への付着過程:PET(陽電子断層撮影法)の基礎として」に対するコメント(会員の声)
- 27aZB-9 ポジトロニウム負イオンの光解離実験(原子分子,領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
- 30pXN-2 静電型イオン蓄積リングの開発III : イオン入射系および中性粒子検出系(原子・分子)(領域1)
- 21aTE-1 静電型イオン蓄積リングの開発 I : 概要
- 31pXE-7 極低温ヘリウム中における分子イオンの移動度 IV
- 8p-S-9 陽電子消滅法による石英ガラス、メタミクトガラス、結晶石英の構造と照射欠陥の研究
- 26pYS-5 飛行時間法で測定した,固体表面からのポジトロニウム放出(X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
- 27aRE-10 透過型陽電子顕微鏡における像質改善の取組(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 21pWA-8 透過型陽電子顕微鏡を用いた像観察(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 22pRF-5 TMU E-ringを用いた負イオンの蓄積実験(原子・分子,領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
- 19pXH-8 TMU E-ringによるC^-の衝突誘起電子脱離断面積の測定(原子・分子,領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
- 19pXH-9 TMU E-ringにおける正負分子イオンのレーザー合流実験II(原子・分子,領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)
- 21pWA-9 ナノ秒パルス電子ビームを用いたポジトロニウム・ピーム生成(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- 24aYA-3 陽電子発生用専用加速器による陽電子ビームの特性
- 29a-A-3 低速陽電子の磁場輸送系からの引き出しおよび透過型高輝度化
- 高エ研放射光低速陽電子源のパルスビースの時間特性
- 28p-YG-3 PF低速陽電子源の現状
- 23pWD-13 TMU E-ringにおける正負分子イオンのレーザー合流実験(23pWD 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 30aTB-2 TMU E-Ringにおけるイオン-レーザー合流及びRF印加(30aTB 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 25pYP-7 陽電子消滅同時計数ドップラー幅測定法によるB、BF_2注入Si中の欠陥の研究
- 30aXD-7 陽電子消滅法によるSi中不純物ゲッタリング挙動の研究(30aXD X線,粒子線(陽電子消滅),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
- イオン照射した鉄の同時計数ドップラー幅測定 (「陽電子ビームの形成と理工学への応用」専門研究会報告書 平成14年度)
- KEK陽電子施設の現状--冷却系故障事故と回復について (「陽電子ビームの形成と理工学への応用」専門研究会報告書 平成12年度)
- 陽電子施設と専用加速器
- 25aWZ-4 ポジトロニウム挙動による石英ガラスの構造解析(25aWZ X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
- 20pXB-8 陽電子誘起イオン脱離の観測
- 29pXJ-5 イオン照射した鉄の同時計数ドップラー幅測定
- 2p-YC-7 中性子、電子およびレーザー照射した石英の陽電子消滅II
- 29a-YG-10 中性子、電子およびレーザ照射した石英の陽電子消滅
- 30p-E-15 石英ガラス中の照射欠陥による陽電子捕獲
- 石英ガラス中の放射線照射によって生ずる陽電子捕獲欠陥
- 陽電子消滅およびESR測定法による石英ガラス中の照射欠陥の研究
- 28a-K-4 低速陽電子研究施設でのファーストビーム観察および立ち上げ状況
- 20aYA-14 TMU E-ringを用いた2価分子イオンの寿命測定(原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 25aYA-7 静電型イオン蓄積リングの開発V : 周回ビームの精密制御(原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 27aXM-3 原子,分子衝突のための静電型イオン蓄積リングの開発(蓄積リング・ビーム冷却,新領域)
- 13aTE-9 静電型イオン蓄積リングの開発 IV : 重イオン蓄積テスト(原子・分子, 領域 1)
- 30a-YK-8 陽電子消滅および電子スピン共鳴法による石英ガラスならびに水晶中の照射欠陥
- 22pTC-7 陽電子マイクロプローブによるイメージング(領域10シンポジウム主題:X線・電子線による回折イメージングの最前線,領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 19pXB-1 Si中のCuゲッタリングサイトの陽電子消滅(格子欠陥・ナノ構造(半導体・ナノ粒子・表面界面),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 21aTE-2 静電型イオン蓄積リングの開発 II : 超高真空化と窒素温度冷却
- 28a-XJ-12 ^Fの電着による高強度陽電子線源の開発
- 26aYF-4 線形加速器による陽電子源を用いた透過型陽電子顕微鏡の開発(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 21aTC-9 透過型陽電子顕微鏡における陽電子マイクロビーム源の開発(X線・粒子線(陽電子),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 原子分子衝突研究を目的とした液体窒素冷却静電型イオン蓄積リング
- 6a-X-3 KEK物構研低速陽電子研究施設の高電圧輸送路
- 29a-A-4 SiO_2表面からのポジトロニウム放出(II)
- SiO_2表面のポジトロニウム放出
- 18aTD-1 デジタル波形処理によるγ線シンチレーション検出器の時間分解能の向上
- 20aXC-7 静磁場輸送陽電子ビームのマイクロビーム化(X線・粒子線(陽電子消滅),領域10,誘導体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 30p-YK-1 陽電子ビームによるSi中水素関与欠陥の挙動研究
- 20pTA-2 極低温ヘリウム中におけるヘリウムクラスターイオンの移動度
- 20pTA-1 極低温ヘリウム中における分子イオンの移動度
- 30aZF-11 ヘリウム気体中における準安定O_2^+の移動度II
- 陽電子プローブマイクロアナライザーによる塑性変形した純鉄の空孔型欠陥マップ
- 環境試料中鉛のフローインジェクション定量
- イオン交換を用いる鉄鋼中トランプ元素の分離
- 解説 イオン交換分離とその製鋼関連分析における活用
- フロ-インジェクション分析法公定法化分科会報告
- フロ-インジェクション分析法
- フロ-インジェクション分析--無機分析への適用
- 14a-A-4 照射された結晶および非晶質石英中の陽電子消滅
- 22pYN-1 ヘリウムガス中におけるO_2^+の移動度測定
- 22aC-10 電荷移行反応の競争過程としてのヘリウムクラスター生成
- 28a-XJ-11 加速レンズ系によらない陽電子輝度増強の試み
- 28aRA-13 多価イオンの持つポテンシャルエネルギーによる希ガス固体からの絶対脱離イオン収率の測定(28aRA 原子分子(理論・分光・表面),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
- 受賞論文(〔平成16年度日本イオン交換学会〕学会賞) イオン交換による微量無機成分の分離濃縮
- 極微量を定量する (特集 最新の金属・セラミックスの分析化学)
- 28pTJ-7 陽電子消滅法によるシリカガラスとソーダライムガラスの空隙検出(28pTJ 格子欠陥・ナノ構造(金属・転位・点欠陥,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 29aXZB-6 KEK低速陽電子実験施設におけるビームライン整備と新しい測定装置(29aXZB 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 29aXZB-6 KEK低速陽電子実験施設におけるビームライン整備と新しい測定装置(29aXZB 領域10,ビーム物理領域合同 X線・粒子線(電子線・陽電子),ビーム物理領域)