21pWA-8 透過型陽電子顕微鏡を用いた像観察(21pWA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2008-08-25
著者
-
藤浪 真紀
千葉大院工
-
岡 壽崇
千葉大院工
-
神野 智史
千葉大院工
-
栗原 俊一
高エ研
-
井上 雅夫
日本電子
-
村谷 孝博
千葉大院工
-
大塚 岳志
日本電子
-
松谷 幸
日本電子
-
藤波 真紀
新日鉄先端技術研
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