25aXB-2 Fe-Cu合金中の陽電子拡散係数 : Cu濃度および測定温度依存性(25aXB 陽電子消滅・コンプトン散乱,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2006-08-18

著者

• 井上 耕治

  東北大金研

• 外山 健

  東北大金研

• 永井 康介

  東北大金研

• 長谷川 雅幸

  東北大金研

• 井上 耕治

  京大院工

• 井上 耕治

  東北大 金属材料研

• 唐 政

  華東師範大学

• 唐 政

  東北大金研

• 津戸 昭良

  東北大金研

• 井上 耕治

  京大工

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