デジタルLSIにおけるオンチップ電源雑音とオフチップ電磁雑音の統合評価(<特集>チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
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概要
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EMIとLSI動作の関係を調査するために,0.18μmCMOSスタンダードロジックセルのデジタルテスト回路の電源ノイズ波形を,測定分解能0.3ns/1.2mVにてオンチップモニタによって取得した.また,テスト回路の電源電流によるPCB(printed circuit board)の磁界変化をオフチップの磁界プローブ手法を利用して測定した.オンチップとオフチップのインピーダンスネットワークを統合した等価回路モデルを,オフチップの電源電流による磁場変化からオンチップの電源電位変動を計算するために利用した.オンチップモニタとオフチップの電磁プローブ手法による電源雑音測定結果は,300MHz以下の周波数成分について良く一致することを見出した.本研究は,回路レベルのオンチップ電源雑音測定とボードレベルの電磁雑音評価を初めて統合したものである.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2008-01-10
著者
-
市川 浩司
(株)デンソー
-
永田 真
神戸大学工学部情報知能工学科
-
高橋 裕樹
神戸大学大学院自然科学研究科
-
市川 浩司
株式会社デンソー
-
ICHIKAWA Kouji
DENSO CORPORATION
-
市川 浩司
(株)デンソーシステム開発部
-
永田 真
神戸大学:株式会社a-r-tec
-
市川 浩司
株式会社デンソーシステム開発部
-
市川 浩司
(株)デンソー研究開発3部
-
永田 真
神戸大学工学部
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