デジタルLSIの電源ノイズに関するオンボードおよびオンチップ測定の統合評価(EMC,一般)
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概要
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近年,LSIシステムの動作における雑音環境の悪化が進んでおり,システムにおける雑音対策やEMC対策が重要となっている.これにより,製造されるLSIシステムの動作保証や性能保証のため,電源雑音の総合的な評価手法や,設計段階での電源雑音対策が求められている.本稿では,32bitプロセッサ搭載チップを対象として,オンチップ・オンボード電源雑音の統合評価手法及びLSI・パッケージ・ボードを統合した協調解析モデルを提案する.オンチップ電源雑音評価にはオンチップモニタ回路を使用し,リアルタイムでの電源雑音検出を行った.オンボード電源雑音評価には磁界プローブを用い,電源電流の周波数成分評価を行った.これらの評価手法による電源雑音の測定結果と協調解析モデルによる解析結果の比較検討により,LSI内部で発生する雑音およびボード上に漏洩する雑音の評価・解析に提案手法が有効であることを示した.
- 2012-04-13
著者
-
永田 真
神戸大学大学院工学研究科情報知能学専攻
-
市川 浩司
(株)デンソー
-
市川 浩司
株式会社デンソー
-
永田 真
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
ICHIKAWA Kouji
DENSO CORPORATION
-
市川 浩司
(株)デンソーシステム開発部
-
市川 浩司
株式会社デンソーシステム開発部
-
Ichikawa Kouji
Kobe University:denso Corporation
-
永田 真
神戸大 大学院システム情報学研究科
-
永田 真
神戸大学大学院工学研究科
-
永田 真
神戸大学大学院システム情報学研究科:戦略的創造研究推進事業(jst Crest)
-
吉川 薫平
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
市川 浩司
(株)デンソー研究開発3部
-
佐々木 悠太
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
永田 真
神戸大学大学院システム情報学研究科:戦略的創造研究推進事業(JST,CREST)
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