デジタルLSI電源ノイズのオンチップ観測とシミュレーション技術(<特集1>平成21年度技術賞受賞講演)
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概要
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デジタルLSIにおけるダイナミック電源ノイズが,LSIの動作性能や電子機器の電磁環境性能に及ぼす影響は極めて大きい。電源ノイズの発生,チップ内のノイズ伝搬,ノイズと回路動作の干渉,について正確な知識に基づく設計上の対策が欠かせない。本稿では,LSIの電源ノイズ問題を解説するとともに,解決への道しるべとなるオンチップ・ノイズ観測技術とチップレベル・ノイズシミュレーション技術について紹介する。
- 社団法人エレクトロニクス実装学会の論文
- 2009-11-01
著者
-
永田 真
神戸大学大学院工学研究科情報知能学専攻
-
岩田 穆
広島大学大学院先端物質科学研究科
-
岩田 穆
株式会社エイアールテック
-
永田 真
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
岩田 穆
広島大学
-
岩田 穆
広島大学工学部第二類(電気系)
-
永田 真
神戸大 大学院システム情報学研究科
-
岩田 穆
広島大 大学院先端物質科学研究科
-
岩田 穆
エイアールテック
-
永田 真
神戸大学工学部
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