オンチップ環境擾乱に対するアナログIPコアの診断テストベンチの提案(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
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概要
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アナログ回路は電源・基板変動等の動作環境の動的変化に大きく影響を受ける。本論文では診新対象のカスタムIP領域近傍に設置するオンチップ波形取得回路と可変ノイズ発生回路の構成を提案する。90nm CMOSプロセスによるテストチップを設計、実測結果より、IPコアのためのノイズ伝達・結合係数が定量的に導出された。
- 2011-07-14
著者
-
永田 真
神戸大学大学院工学研究科情報知能学専攻
-
永田 真
神戸大学工学部情報知能工学科
-
荒賀 佑樹
神戸大学システム情報学研究科
-
橋田 拓志
神戸大学システム情報学研究科
-
永田 真
神戸大学システム情報学研究科
-
橋田 拓志
神戸大学大学院工学研究科
-
永田 真
神戸大 大学院システム情報学研究科
-
永田 真
神戸大学大学院工学研究科
-
永田 真
神戸大学大学院システム情報学研究科:戦略的創造研究推進事業(jst Crest)
-
荒賀 佑樹
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
上山 晋一郎
神戸大学システム情報学研究科
-
永田 真
神戸大学工学部
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