デジタルLSIにおける電源ノイズと動作不良の解析手法(学生・若手研究会)
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概要
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大規模デジタルLSIにおけるダイナミック電源雑音シミュレーションを行った.シミュレーションには時系列分割寄生容量(TSDPC)モデルを用いた電源電流モデル化手法を使用した.オンチップ雑音モニタを搭載した32-bit RISCマイクロプロセッサチップを90-nmCMOSプロセスで開発し,雑音モニタにより取得した実測結果との比較をすることで解析技術の評価を行った.雑音波形の比較と共に,デジタルLSI内部に多数配置したオンチップ雑音モニタを用いて実測結果と解析結果の雑音振幅の面内分布の比較を行った.一方で,プロセッサの動作エラーを検出するための命令レベルプログラミング手法を開発した.エラー検出手法を用いて実測評価を行った結果,動作エラー発生率が電圧降下量に対して閾値を持って発生する可能性があることを見出した.
- 2008-12-04
著者
-
永田 真
神戸大学大学院工学研究科情報知能学専攻
-
澤田 卓也
神戸大学大学院工学研究科情報知能学専攻
-
永田 真
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
澤田 卓也
神戸大学大学院工学研究科
-
永田 真
神戸大 大学院システム情報学研究科
-
永田 真
神戸大学大学院工学研究科
-
澤田 卓也
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
永田 真
神戸大学大学院システム情報学研究科:戦略的創造研究推進事業(jst Crest)
-
永田 真
神戸大学工学部
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