高速ウェル制御回路のダイナミック電源・ウェルノイズの測定および解析方法(ディジタル・情報家電,放送用,ゲーム機器用システムLSI及び一般)
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概要
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高機能LSIでは微細プロセスにおける高速化と低電力化を両立させるため、電源と基板端子を独立した電源配線で制御するようになってきている。このような設計では、オンチップ上のインピーダンスが複雑に絡み合い、特殊なIR-DROPを引き起こしていると考えられる。本稿では、このような状況を解明するため、基板制御をターゲットとした最大400MHz動作のプロセッサ製品用高速レジスタファイルコアにオンチップでノイズを測定するノイズデテクタを搭載し、電源-グラウンド-ウェル-基板の組み合わさったダイナミックなノイズ状況を初めて実測するとともに、その中での特殊な状況について原理を解明し、新たな電源設計手法について提言する。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-09-03
著者
-
永田 真
神戸大学工学部情報知能工学科
-
辻川 洋行
松下電器産業(株)半導体杜
-
島崎 健二
神戸大学 工学部 情報知能工学科
-
島崎 健二
神戸大学工学部情報知能工学科
-
島崎 健二
松下電器産業(株)
-
平野 将三
松下電器産業(株)
-
奥本 健
松下電器産業(株)半導体社
-
奥本 健
神戸大学工学部
-
平野 将三
松下電器産業(株)半導体杜
-
永田 真
神戸大学工学部
-
辻川 洋行
松下電器産業
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