デジタル回路における電源/ウェル雑音の高分解能測定技術(システムオンシリコン設計技術並びにこれを活用したVLSI)
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概要
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基板雑音の高分解能測定に実績のあるSF+LC型雑音測定回路を応用して、高速デジタル回路の動作時における電源/ウェル/グラウンドの電位変動すなわちダイナミックIRドロップの時間領域測定に成功した。本測定手法は、100-μV,100-ps程度の高分解能で、任意の測定ウインドウ、高線形性、広ダイナミックレンジ、等の特徴を示し、きわめて波形精度の高い雑音測定が可能である。このため、測定波形は回路の動作状態や動作周波数を明確に反映し、さらに動作原理の異なるデジタル回路間の雑音波形の違いも評価できる。本研究で開発した多点/多電位の雑音測定技術は、設計段階における雑音予測技術の構築および評価/較正に役立ち、ナノメター領域のCMOS-LSI開発における設計信頼性の向上に貢献できる。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2004-03-04
著者
-
永田 真
神戸大学工学部情報知能工学科
-
辻川 洋行
松下電器産業(株)半導体杜
-
島崎 健二
神戸大学 工学部 情報知能工学科
-
島崎 健二
神戸大学工学部情報知能工学科
-
島崎 健二
松下電器産業(株)
-
平野 将三
松下電器産業(株)
-
奥本 健
松下電器産業(株)半導体社
-
奥本 健
神戸大学工学部
-
平野 将三
松下電器産業(株)半導体杜
-
永田 真
神戸大学工学部
-
辻川 洋行
松下電器産業
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