Design of C-Testable Modified-Booth Multipliers

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概要

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• In this paper, we consider the design for testability of multiplier based on the modified Booth Algorithm. First, we present a basic array implementation of the multiplier. Next, we introduce testability considerations to derive two C-testable designs. The first of the designs is C-testable under the single stuck-at fault model(SAF)with 10 test patterns. And, the second is C-testable under the cell fault model(CFM)with 33 test patterns.

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 2000-10-25

著者

• TAKAHASHI Hiroshi

  The authors are with NTT Photonics Laboratories

• Takamatsu Y

  Graduate School Of Science And Engineering Ehime University

• Takamatsu Yuzo

  The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University

• Boateng K

  The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University

• BOATENG Kwame

  The authors are with the Faculty of Engineering, Ehime University

• Takahashi Hiroshi

  The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University

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