鉛ストロンチウムカルコゲナイド薄膜の特性と赤外線レーザ
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概要
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PbSrS、PbSrSe及びPbSrTe薄膜をホットウォール蒸着法を用いて作製し、バンドギャップ、格子定数、電気的特性等の諸特性を測定した。これらの薄膜のSr組成に対するバンドギャップ増加率dEg/dxは、Sr組成の小さいところでは、それぞれ7.5eV、2.5eV、3.6eVとなり、PbSrSの場合はかなり大きな値を示した。格子定数のSr組成依存性では、特にSr組成10%以下のPbSrSeにおいては小さく、PbSrS/Pbs及びPbSrSe/PbSe系では格子整合の比較的良いヘテロ接合が作製できることが分かった。PbSrS/Pbs及びPbSrTe/PbTeダブルヘテロ型レーザを作製し、それぞれ245k(2.97μm)、227k(413.μm)までのレーザパルス動作が得られた。また、PbSrS/Pbs多重料紙井戸レーザ作製し、DHレーザに比べ電流しきい値の低減が確認され、255k(2.80μm)までのレーザパルス動作も得られた。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-05-21
著者
-
石田 明広
静岡大学工学部
-
石田 明広
静岡大学 工学部電気電子工学科
-
櫻井 伸弘
静岡大学大学院電子科学研究科
-
藤安 洋
静岡大学工学部
-
藤安 洋小
静岡大学大学院電子科学研究科:静岡大学工学部電気電子工学科
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