単結晶シリコンのTEM内引張試験法の開発
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概要
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- 2008-06-12
著者
-
佐藤 一雄
名古屋大学大学院工学研究科
-
中島 正博
名古屋大学大学院工学研究科
-
福田 敏男
名古屋大学大学院工学研究科
-
荒井 重勇
名古屋大学100万ボルト電子顕微鏡研究室
-
佐藤 一雄
名古屋大学
-
石原 英和
名古屋大学
-
中尾 茂樹
名古屋大学
-
安藤 妙子
名古屋大学
-
斎藤 徳之
名古屋大学
-
荒井 重勇
名古屋大学
-
安藤 妙子
立命館大学
-
福田 敏男
名古屋大学大学院工学研究科マイクロ・ナノシステム工学専攻
-
福田 敏男
名古屋大学
-
佐藤 一雄
(株)日立製作所
-
安藤 妙子
名古屋大学工学研究科
-
荒井 重勇
名大
-
石原 英和
名大
-
中島 正博
名古屋大学マイクロ・ナノメカトロニクス研究センター
-
安藤 妙子
立命館大
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