安藤 妙子 | 立命館大学
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概要
関連著者
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安藤 妙子
立命館大学
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安藤 妙子
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川畑 達央
オムロン
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野末 紗海人
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土屋 智由
京大
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生津 資大
兵庫県立大
著作論文
- 430 単結晶シリコン薄膜の破壊靱性値 : 温度および方位依存性(T09-2 微小機械システムにおけるマイクロ・ナノ力学(2) 単結晶シリコンの力学特性,大会テーマセッション,21世紀地球環境革命の機械工学:人・マイクロナノ・エネルギー・環境)
- 単結晶シリコンのTEM内引張試験法の開発
- 2839 単結晶シリコン薄膜の破壊靱性に及ぼす寸法と環境温度の効果(S08-3 微小機械設計・開発のための実験力学の新展開(3),S08 微小機械設計・開発のための実験力学の新展開)
- 2831 薄膜の曲げ試験用デバイスの開発(S08-2 微小機械設計・開発のための実験力学の新展開(2),S08 微小機械設計・開発のための実験力学の新展開)
- 5.2.3.樹脂材料,その他の特性評価(5.2.マイクロ・ナノ構造体の強度特性評価)(5.材料力学)(機械工学年鑑)
- 原子分解能を有する応力負荷下でのその場表面観察システムの開発
- マイクロ薄膜材料の機械的特性の測定
- 薄膜材料を対象とするオンチップ引張疲労試験システムの開発
- 低温環境下における単結晶シリコン薄膜の破壊挙動
- シリコン単結晶極薄ダイヤフラムのバルジ試験による機械特性評価
- 薄膜材料のオンチップ引張試験法の提案と試験デバイスの製作
- オンチップ引張試験によるシリコン薄膜の応力とひずみの測定
- 原子分解能を有する応力負荷下でのその場表面観察システムの開発
- 2P1-C22 透過型電子顕微鏡用ナノマニピュレータによるシリコンマイクロチップを用いたその場引張試験(ナノ・マイクロ作業システム)
- T0302-2-6 TEM内における単結晶シリコン薄膜のその場引張試験([T0302-2]高信頼マイクロ・ナノデバイスのための設計・計測技術(2):応力・ひずみ計測)
- MNM-3A-1 単結晶シリコン薄膜の破壊靭性値 : 低温環境における温度依存性(セッション 3A 単結晶・多結晶シリコンの疲労寿命評価とメカニズムの解明)
- MNM-3A-5 単結晶シリコン薄膜のTEM内引張試験(セッション 3A 単結晶・多結晶シリコンの疲労寿命評価とメカニズムの解明)
- 5-5 異なる試験手法により得られたシリコンの疲労挙動の相互比較(セッション5:OS1-2 マルチスケール・シミュレーションとナノ計測)
- 国際会議報告：TRANSDUCERS 2013 The 17th International Conference on Solid-State Sensors, Actuators and Microsystems
- MP-47 切欠き付単結晶シリコンの破壊の遷移とその寸法依存性(ポスターセッション)
- 国際会議報告：APCOT 2014 7th Asia-Pacific Conference on Transducers and Micro/Nano Technologies