石原 英和 | 名大
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概要
関連著者
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中島 正博
名古屋大学大学院工学研究科
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安藤 妙子
立命館大学
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福田 敏男
名古屋大学大学院工学研究科マイクロ・ナノシステム工学専攻
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福田 敏男
名古屋大学
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佐藤 一雄
(株)日立製作所
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荒井 重勇
名大
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石原 英和
名大
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安藤 妙子
立命館大
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佐藤 一雄
名古屋大学大学院工学研究科
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佐藤 一雄
名古屋大学
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石原 英和
名古屋大学
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中尾 茂樹
名古屋大学
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佐藤 一雄
名大
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荒井 重勇
名古屋大学
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福田 敏男
名大
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中島 正博
名大
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中島 正博
名古屋大学マイクロ・ナノメカトロニクス研究センター
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中島 正博
名古屋大
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福田 敏男
名古屋大学大学院工学研究科
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荒井 重勇
名古屋大学100万ボルト電子顕微鏡研究室
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安藤 妙子
名古屋大学
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斎藤 徳之
名古屋大学
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安藤 妙子
名大
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安藤 妙子
名古屋大学工学研究科
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中尾 茂樹
名大
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野末 紗海人
名古屋大学
著作論文
- 単結晶シリコンのTEM内引張試験法の開発
- 2P1-C22 透過型電子顕微鏡用ナノマニピュレータによるシリコンマイクロチップを用いたその場引張試験(ナノ・マイクロ作業システム)
- T0302-2-6 TEM内における単結晶シリコン薄膜のその場引張試験([T0302-2]高信頼マイクロ・ナノデバイスのための設計・計測技術(2):応力・ひずみ計測)
- MNM-3A-5 単結晶シリコン薄膜のTEM内引張試験(セッション 3A 単結晶・多結晶シリコンの疲労寿命評価とメカニズムの解明)