CVDダイヤモンド薄膜表面からの電子放出と欠陥密度との関係
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概要
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- 1995-07-01
著者
-
飯田 昌盛
東海大学工学部電子工学科
-
広瀬 洋一
東海大学電子情報学部エレクトロニクス学科
-
広瀬 洋一
東海大学工学部電子工学科
-
秋葉 幸男
東海大
-
黒須 楯生
東海大
-
秋葉 幸男
東海大学工学部
-
黒須 楯生
東海大学工学部
-
庄 善之
東海大学工学部
-
和泉 富雄
東海大学工学部
-
飯田 昌盛
東海大学短期大学部
-
飯田 昌盛
東海大学短期大学部高輪校舎情報・ネットワーク学科
-
庄 善之
東海大学電子情報学部電気電子工学科
-
庄 善之
東海大学工学部電気電子工学科
-
和泉 富雄
東海大学総合科学技術研究所
-
黒須 楯生
東海大学電子情報学部エレクトロニクス学科
-
広瀬 洋一
東海大 電子情報
-
飯田 昌盛
東海大学
-
広瀬 洋一
日本工業大学
-
黒須 楯生
東海大 情報理工
-
飯田 昌盛
東海大学工学部
-
広瀬 洋一
東海大学工学部
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