廣沢 一郎 | 財団法人高輝度光科学センター

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概要

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• 財団法人高輝度光科学センターの論文著者

関連著者

• 廣沢 一郎

  Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)

• 広沢 一郎

  NEC

• 広沢 一郎

  高輝度光科学研究センター

• 広沢 一郎

  Nec分析評価センター

• 広沢 一郎

  Jasri

• 廣沢 一郎

  高輝度光科学研究センター(spring-8)

• 廣沢 一郎

  (財)高輝度光科学研究センター利用研究促進部門i

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学研究センター

• 広沢 一郎

  Necデバイス評価技術研究所

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学センター

• 伊藤 聡

  Nec・評価技術開発本部

• 佐藤 真直

  Sping-8

• 佐藤 眞直

  高輝度光科学研究センター

• 佐藤 真直

  高輝度光科学研究センター

• 廣沢 一郎

  高輝度光科学研究センター

• 田ノ岡 大輔

  (株) モリテックス

• 谷山 明

  住友金属工業株式会社総合技術研究所

• 橘 勝

  横浜市大国際総合

• 小島 謙一

  横浜創英短大:横浜市大国際総合

• 谷山 明

  住金・総研

• 高山 透

  住金・総研

• 田ノ岡 大輔

  日本レーザ電子

• 高山 透

  住友金属工業(株)総合技術研究所

• 川田 光

  住友金属工業(株)総合技術研究所

• 吉村 博史

  横浜市大国際総合

• 谷山 明

  住友金属工業株式会社 総合技術研究所

• 谷山 明

  住友金属工業(株)総合研究開発センタ

• 廣沢 一郎

  JASRI

• 小嶋 謙一

  横浜市立大学大学院総合理学研究科

• 吉村 博史

  横市大院国総科

• 北田 典央

  横市大院国総科

• 小島 謙一

  横市大院国総科

• 橘 勝

  横市大院国総科

• 高山 透

  住友金属工業 総技研

• 谷山 明

  住友金属工業 総技研

• 荒井 正浩

  住友金属工業(株)総合技術研究所

• 荒井 正浩

  住金・総研

• 中井 宏

  株式会社ihi

• 廣沢 一郎

  NECデバイス評価技術研究所

• 橘 勝

  横浜市立大学

• 内田 龍男

  東北大学大学院工学研究科

• 寺本 章伸

  東北大学未来科学技術共同研究センター

• 大見 忠弘

  東北大学未来科学技術共同研究センター

• 山田 重樹

  横市大総合理

• 細野 秀雄

  東工大応セラ研:erato-sorst Jst:東工大フロンティア研究センター

• 細野 秀雄

  東工大応セラ研

• 平野 正浩

  東工大フロンティア

• 井手本 康

  東京理科大学理工学部

• 水木 純一郎

  日本原子力研究所放射光科学研究センター

• 吉村 昭彦

  横浜市立大学院国総科

• 大見 忠弘

  東北大学

• 大見 忠弘

  東北大学 未来科学技術共同研究センター

• 井川 直樹

  原子力機構

• 神谷 利夫

  東工大応セラ研

• 佐藤 真直

  (財)高輝度光科学研究センター

• 宮下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻

• 福田 竜夫

  原子力機構放射光

• 井手本 康

  東理大理工

• 北村 尚斗

  東京理科大学理工学部

• 伊藤 孝憲

  AGCSeimichemical Co., Ltd.

• 白崎 紗央里

  AGCSeimichemical Co., Ltd.

• 藤江 良紀

  AGCSeimichemical Co., Ltd.

• 北村 尚斗

  Department of Pure and Applied Chemistry, Faculty of Science & Technology, Tokyo University of Scien

• 井手本 康

  Department of Pure and Applied Chemistry, Faculty of Science & Technology, Tokyo University of Scien

• 大坂 恵一

  Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)

• 井川 直樹

  Quantum Beam Science Directorate, Japan Atomic Energy Agency

• 山口 拓也

  島根医科大学 第三内科

• 伊藤 孝憲

  Agc Seimi Chemical Co. Ltd.

• 伊藤 孝憲

  日産自動車(株)総合研究所第一技術研究所

• 水木 純一郎

  原子力機構放射光:trip(jst)

• 水木 純一郎

  日本原子力研究所

• 浜田 貴成

  (株)住友金属小倉

• 北野 彰子

  高輝度光科学研究センター

• 北野 彰子

  (財)高輝度光科学研究センター

• 荒井 正治

  住友金属工業(株)総合技術研究所

• 廣澤 一郎

  高輝度光科学研究センター(SPring-8)

• 福田 竜生

  日本原子力研究所

• 井川 直樹

  Quantum Beam Science Directorate Japan Atomic Energy Agency

• 小林 健一

  株式会社日産アーク

• 服部 健雄

  東北大学未来情報産業共同研究センター

• 平野 正浩

  Jst

• 薮田 久人

  キャノン先端融合研

• 高田 一広

  キャノン先端融合研

• 島田 幹夫

  キャノン先端融合研

• 雲見 日出也

  キャノン先端融合研

• 野村 研二

  ERATO-SORST

• 諏訪 智之

  東北大学未来科学技術共同研究センター

• 井手本 康

  Faculty Of Science & Technology Tokyo University Of Science

• 内田 龍男

  東北大学工学研究科

• 服部 健雄

  東北大学未来科学技術共同研究センター

• 大見 忠弘

  東北大学未来科学技術共同研究センター:東北大学wpiリサーチセンター

• 服部 健雄

  東京工業大学フロンティア研究機構

• 福田 竜生

  原子力機構放射光:理研播磨研:trip(jst)

• 伊藤 孝憲

  Agcセイミケミカル株式会社

• Teramoto A

  New Industry Creation Hatchery Center Tohoku University

• 木下 郁雄

  横浜市大院国総科

• 北村 尚斗

  東京理科大学理工学部工業化学科

• 小椋 厚志

  明治大学理工学部電気電子生命学科

• 浜田 貴成

  (株) 住友金属小倉

• 内田 龍男

  東北大学大学院

• 平野 正浩

  Jst‐erato

• Ohmi Tadahiro

  Department Of Electronic Engineering Tohoku University

• Ohmi Tadahiro

  The New Industry Creation Hatchery Center (niche) Tohoku University

• Ohmi Tadahiro

  Department Of Electronic Engineering Graduate School Of Engineering Tohoku University:(present Addre

• 水木 純一郎

  原子力機構・放射光科学研究ユニット

• 小瀬村 大亮

  明治大学理工学部

• 藪田 久人

  広大総合科

• 薮田 久人

  広大総合科

• 小竹 生良

  NEC鹿児島

• 岩沢 核

  NEC鹿児島

• 服部 真季

  明治大学理工学部

• 武井 宗久

  明治大学理工学部

• 永田 晃基

  明治大学理工学部

• 赤松 弘彬

  明治大学理工学部

• 富田 基裕

  明治大学理工学部

• 水上 雄輝

  明治大学理工学部

• 橋口 裕樹

  明治大学理工学部

• 山口 拓也

  明治大学理工学部

• 小金澤 智之

  財団法人高輝度光科学センター

• 山田 重樹

  横市大院国総科

• 木下 郁雄

  横市大院国総科

• 中井 宏

  (株)IHI

• 吉村 昭彦

  (株)IHI

• 伊藤 聡

  NECデバイス評価技術研究所

• 小椋 厚志

  明治大学理工学部

• Ohmi T

  Tohoku Univ. Sendai‐shi Jpn

• 山田 重樹

  横市大ナノシステム科学

• 伊藤 聡

  NEC評技開本

• 廣沢 一郎

  NEC・評価技術開発本部

• 廣沢 一郎

  NEC技術開発本部

• 伊藤 聡

  NEC技術開発本部

• 伊藤 聡

  NEC・デバイス評価技術研究所

• 廣沢 一郎

  NEC・デバイス評価技術研究所

• Teramoto Akinobu

  Tohoku Univ. Sendai Jpn

• Katase Takayoshi

  Aterials And Structures Laboratory Tokyo Institute Of Technology

• 小瀬村 大亮

  明治大学理工学部:日本学術振興会

• 藤江 良紀

  Agcseimichemical Co. Ltd.

• 藪田 久人

  広大・総合科

• 白崎 紗央里

  Agcseimichemical Co. Ltd.

• 神谷 利夫

  Materials And Structures Laboratory Tokyo Institute Of Technology

• 宮下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科

• 福田 竜生

  JAEA/SPring-8

• 細野 秀雄

  東工大応セラ:東工大フロンティア

• 山口 拓也

  島根大学医学部附属病院

• 浜田 貴成

  (株)住金小倉

• 服部 健雄

  東京工大 フロンティア研究機構

• 野村 研二

  東京工業大学フロンティア研究機構

• 山田 重樹

  横浜市立大学大学院生命ナノシステム科学研究科

• 寺本 章伸

  東北大学未来科学共同センター

• 大見 忠弘

  東北大学未来科学共同センター

• 諏訪 智之

  東北大学未来科学共同センター

• 小椋 厚志

  明治大学理工学研究科

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著作論文

• リートベルト, MEM解析による (La_Sr_)MnO_, (Ba_Sr_) (Co_Fe_)O_ の混合伝導に関する研究
• PC01 微小角入射X線回折による液晶配向膜の極角方向の分子配向の検討(ディスプレイ)
• 放射光を用いた高炭素鋼線のX線構造解析
• 放射光を用いたその場観察手法によるGA合金化初期反応解析
• 放射光を用いたGA合金化反応のその場観察
• 23aTH-3 アモルファス半導体In-Ga-Zn-O膜の構造と伝導(液体・アモルファス・その他,領域6,金属,超低温,超伝導・密度波)
• 23aTA-9 カーボンナノウォールの成長機構と構造(23aTA 領域7,領域10合同 ナノチューブ・グラファイトにおける欠陥,領域7(分子性固体・有機導体))
• PC05 薄膜の屈折率異方性の高速測定方法(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)
• 原子スケールで平坦なSiO_2/Si酸化膜界面歪の評価(プロセス科学と新プロセス技術)
• 23aTG-12 カーボンナノウォールの成長過程と構造(ナノチューブ・グラフェンにおける欠陥,領域7,領域10合同講演,領域7,分子性固体・有機導体)
• 22aTD-4 カーボンナノウォールの成長過程と構造評価(格子欠陥・ナノ構造(炭素・ナノ構造),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 可視および赤外分光エリプソメトリーによる液晶配向膜の異方性測定
• 放射光利用の基礎と SPring-8 : 工業材料への利用を中心にして
• 液晶配向膜の表面異方性
• 2PC17 偏光計測によるTNセルの平均的TBA測定
• 2PC02 配向膜高速広範囲評価法の検討
• PCb01 透過光偏光解析によるツイスト角及びセルギャップ測定法の検討
• PCa02 TFTパネル1画素以上の空間分解能をもつ液晶配向膜評価技術
• PCa01 実パネル上配向膜の光学的異方性測定成功
• PCb01 赤外エリプソメトリによる配向膜評価の検討

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