可視および赤外分光エリプソメトリーによる液晶配向膜の異方性測定
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概要
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- 応用物理学会分科会日本光学会の論文
- 2005-05-10
著者
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廣沢 一郎
Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)
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広沢 一郎
NEC
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広沢 一郎
高輝度光科学研究センター
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広沢 一郎
Nec分析評価センター
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広沢 一郎
Jasri
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廣沢 一郎
高輝度光科学研究センター(spring-8)
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廣沢 一郎
(財)高輝度光科学研究センター利用研究促進部門i
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廣沢 一郎
財団法人高輝度光科学研究センター
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広沢 一郎
Necデバイス評価技術研究所
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廣沢 一郎
財団法人高輝度光科学センター
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