PCb01 透過光偏光解析によるツイスト角及びセルギャップ測定法の検討

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概要

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• We propose a method to determine twist angle and gap of LC cell by observing dependence of polarization of transmitted light on orientation of LC cell. We found that glass substrates of LC cell influence determined values of twist angle and cell gap, and that 4x4 matrix approximation is needed for precise estimation of twist angle and cell gap.

• 日本液晶学会の論文
• 2000-10-23

著者

• 廣沢 一郎

  Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)

• 広沢 一郎

  NEC

• 広沢 一郎

  高輝度光科学研究センター

• 広沢 一郎

  Nec分析評価センター

• 広沢 一郎

  Jasri

• 廣沢 一郎

  高輝度光科学研究センター(spring-8)

• 廣沢 一郎

  (財)高輝度光科学研究センター利用研究促進部門i

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学研究センター

• 広沢 一郎

  Necデバイス評価技術研究所

• 伊藤 聡

  Nec・評価技術開発本部

• 小竹 生良

  NEC鹿児島

• 岩沢 核

  NEC鹿児島

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学センター

• 廣沢 一郎

  NEC技術開発本部

• 伊藤 聡

  NEC技術開発本部

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