伊藤 聡 | Nec・評価技術開発本部

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概要

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関連著者

• 伊藤 聡

  Nec・評価技術開発本部

• 廣沢 一郎

  Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)

• 広沢 一郎

  NEC

• 広沢 一郎

  Nec分析評価センター

• 広沢 一郎

  Jasri

• 廣沢 一郎

  高輝度光科学研究センター(spring-8)

• 廣沢 一郎

  (財)高輝度光科学研究センター利用研究促進部門i

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学研究センター

• 広沢 一郎

  Necデバイス評価技術研究所

• 広沢 一郎

  高輝度光科学研究センター

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学センター

• 田ノ岡 大輔

  日本レーザ電子

• 田ノ岡 大輔

  (株) モリテックス

• 伊藤 聡

  NECデバイス評価技術研究所

• 小竹 生良

  NEC鹿児島

• 岩沢 核

  NEC鹿児島

• 伊藤 聡

  NEC評技開本

• 廣沢 一郎

  NEC・評価技術開発本部

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著作論文

• 多入射方位による光学異方性物質の反射偏光同時測定
• 2PC17 偏光計測によるTNセルの平均的TBA測定
• 2PC02 配向膜高速広範囲評価法の検討
• PCb09 配向膜表面凹凸周期とプレティルトとの相関
• PCb01 透過光偏光解析によるツイスト角及びセルギャップ測定法の検討
• PCa02 TFTパネル1画素以上の空間分解能をもつ液晶配向膜評価技術
• PCa01 実パネル上配向膜の光学的異方性測定成功

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