田ノ岡 大輔 | (株) モリテックス

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概要

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関連著者

• 田ノ岡 大輔

  (株) モリテックス

• 廣沢 一郎

  Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)

• 広沢 一郎

  NEC

• 田ノ岡 大輔

  日本レーザ電子

• 広沢 一郎

  Nec分析評価センター

• 広沢 一郎

  Jasri

• 廣沢 一郎

  高輝度光科学研究センター(spring-8)

• 廣沢 一郎

  (財)高輝度光科学研究センター利用研究促進部門i

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学研究センター

• 広沢 一郎

  Necデバイス評価技術研究所

• 広沢 一郎

  高輝度光科学研究センター

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学センター

• 伊藤 聡

  Nec・評価技術開発本部

• 廣沢 一郎

  高輝度光科学研究センター

• 伊藤 聡

  NECデバイス評価技術研究所

• 内田 龍男

  東北大学大学院工学研究科

• 佐藤 真直

  Sping-8

• 佐藤 眞直

  高輝度光科学研究センター

• 宮下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科電子工学専攻

• 佐藤 真直

  高輝度光科学研究センター

• 内田 龍男

  東北大学工学研究科

• 内田 龍男

  東北大学大学院

• 廣沢 一郎

  NEC・評価技術開発本部

• 廣沢 一郎

  NECデバイス評価技術研究所

• 宮下 哲哉

  東北大学大学院工学研究科

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著作論文

• PC01 微小角入射X線回折による液晶配向膜の極角方向の分子配向の検討(ディスプレイ)
• PC05 薄膜の屈折率異方性の高速測定方法(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)
• 多入射方位による光学異方性物質の反射偏光同時測定
• 2PC02 配向膜高速広範囲評価法の検討
• PCa02 TFTパネル1画素以上の空間分解能をもつ液晶配向膜評価技術
• カラーイメージングエリプソメータ : 薄膜の広面積高速評価
• 薄膜の広面積評価と微小領域評価--イメージエリプソメトリーと高空間分離能エリプソメトリー

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