2PC17 偏光計測によるTNセルの平均的TBA測定

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概要

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• We studied relationship between averaged tilt-biased-angle (TBA) of TN-cell and polarization of transmitted light inclined incidence to sample surface by simulation. It was founded that polarization of inclined incident light was more sensitive to TBA than that of normal incident light. It is expected that TBA can be estimated by observation dependence of polarization of inclined incident light on sample orientation.

• 日本液晶学会の論文
• 2001-09-24

著者

• 廣沢 一郎

  Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)

• 広沢 一郎

  NEC

• 広沢 一郎

  高輝度光科学研究センター

• 広沢 一郎

  Nec分析評価センター

• 広沢 一郎

  Jasri

• 廣沢 一郎

  高輝度光科学研究センター(spring-8)

• 廣沢 一郎

  (財)高輝度光科学研究センター利用研究促進部門i

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学研究センター

• 広沢 一郎

  Necデバイス評価技術研究所

• 伊藤 聡

  Nec・評価技術開発本部

• 廣沢 一郎

  財団法人高輝度光科学センター

• 伊藤 聡

  NEC評技開本

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