放射光を用いた高炭素鋼線のX線構造解析
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 2003-09-01
著者
-
谷山 明
住友金属工業株式会社総合技術研究所
-
佐藤 真直
Sping-8
-
佐藤 真直
(財)高輝度光科学研究センター
-
佐藤 眞直
高輝度光科学研究センター
-
廣沢 一郎
Japan Synchrotron Radiation Research Institute (JASRI)
-
荒井 正浩
住友金属工業(株)総合技術研究所
-
佐藤 真直
高輝度光科学研究センター
-
広沢 一郎
NEC
-
谷山 明
住金・総研
-
荒井 正浩
住金・総研
-
高山 透
住金・総研
-
広沢 一郎
高輝度光科学研究センター
-
高山 透
住友金属工業(株)総合技術研究所
-
川田 光
住友金属工業(株)総合技術研究所
-
浜田 貴成
(株)住友金属小倉
-
北野 彰子
高輝度光科学研究センター
-
廣沢 一郎
高輝度光科学研究センター
-
北野 彰子
(財)高輝度光科学研究センター
-
広沢 一郎
Nec分析評価センター
-
広沢 一郎
Jasri
-
廣沢 一郎
高輝度光科学研究センター(spring-8)
-
廣沢 一郎
(財)高輝度光科学研究センター利用研究促進部門i
-
廣沢 一郎
財団法人高輝度光科学研究センター
-
谷山 明
住友金属工業株式会社 総合技術研究所
-
谷山 明
住友金属工業(株)総合研究開発センタ
-
広沢 一郎
Necデバイス評価技術研究所
-
浜田 貴成
(株) 住友金属小倉
-
廣沢 一郎
財団法人高輝度光科学センター
-
高山 透
住友金属工業 総技研
-
谷山 明
住友金属工業 総技研
-
浜田 貴成
(株)住金小倉
関連論文
- ローレンツ顕微鏡法による電磁鋼板の動的磁区構造観察
- リートベルト, MEM解析による (La_Sr_)MnO_, (Ba_Sr_) (Co_Fe_)O_ の混合伝導に関する研究
- 合金化溶融亜鉛めっき鋼板の界面密着強度に及ぼす鋼中Siの影響
- 対応格子Fe粒界におけるZnの拡散挙動と拡散誘起再結晶
- Fe/Zn 反応拡散挙動に及ぼす Fe 中の P の影響
- 合金化溶融亜鉛めっき鋼板における Fe-Zn 合金相の析出・成長挙動に及ぼす鋼中 P の影響
- 0.2%Al-Zn融体/Fe界面に生成したFeZn_(ζ)相のエピタクシー
- Fe-Zn合金相の成長挙動に及ぼす鋼中Pの影響(2)
- 合金化溶融亜鉛めっき鋼板の皮膜/基板界面密着強度と皮膜/基板界面構造に及ぼす溶融 Zn 中 Al の効果
- 合金化溶融亜鉛めっき鋼板の皮膜密着性と界面構造
- 29p-D-3 MEMによるLi_2CsC_, K_2RbC_, Rb_2CsC_の電子密度分布
- 2a-S-4 X線回折によるアルカリ金属ドープC_60の電子密度
- 2a-S-3 Li_2C_sC_60の構造
- 28a-YK-4 Rb_3C_超伝導体の分子内振動の温度依存性
- 28a-YK-3 Na2AC60(A=Cs, Rb, K)超伝導体における相転移
- 28a-YK-2 A_2RbC_のEXAFS
- 29a-C-4 Na_xCs_yC_超伝導体の構造と物性
- 27a-J-9 A_B_xC_(A, B=Li, Na, K, Rb, Cs)の構造と超伝導転移温度の関係
- 表面硬化層を有する低炭素316ステンレス鋼の高温水中でのSCC挙動
- SR光による合金化溶融亜鉛めっきの合金化過程の解析
- PC01 微小角入射X線回折による液晶配向膜の極角方向の分子配向の検討(ディスプレイ)
- 放射光を用いた高炭素鋼線のX線構造解析
- 放射光を用いたその場観察手法によるGA合金化初期反応解析
- 多結晶Fe-Mn-Si系オーステナイト合金の変形に伴う構造変化
- レーザピーニング処理した材料の高エネルギー放射光による非破壊評価
- 227 レーザーピーニングによる窒化ケイ素セラミックスへの圧縮残留応力の導入(ピーニング材料の応力評価,残留応力と材料強度,オーガナイズドセッション3)
- 225 放射光によるレーザピーニング材最表面層の残留応力深さ分布測定(ピーニング材料の応力評価,残留応力と材料強度,オーガナイズドセッション3)
- パルスレーザ照射による残留応力形成メカニズムの検討(2) : 放射光によるレーザ照射部の残留応力分布測定(S06-3 放射光応力評価の実用化,S06 放射光による応力測定と残留応力評価)
- 時間分解X線回折による溶接金属急冷組織形成過程のin-situ観察(分析技術と方法論の最近の進歩)
- 溶接溶融凝固過程のインバー合金中NbCの成長過程 : 放射光による溶接凝固過程の in-situ 観察(第6報)
- 時分解X線回折による溶接溶融凝固現象の in-situ 観察 : 放射光による溶接凝固過程の in-situ 観察(第5報)
- 306 放射光による溶接金属凝固過程のin-situ観察技術の開発 : 放射光による溶接凝固過程のin-situ観察(第2報)(溶接部特性・凝固過程観察)
- 511 レーザーピーニング面内部残留応力分布の非破壊測定(コーティング・表面処理, 残留応力の測定と評価)
- 放射光および中性子回折法による実用材料の応力評価法の開発(S06-2 材料内部の非破壊応力評価,S06 放射光による応力測定と残留応力評価)
- 高エネルギーX線によるひずみスキャニング法のための新しい三軸応力解析法の開発(S06-2 材料内部の非破壊応力評価,S06 放射光による応力測定と残留応力評価)
- 206 高次光を利用した高エネルギーX線による放射光応力測定法の開発(中性子,放射光による応力測定,残留応力の評価と強度,オーガナイスドセッション3,第53期学術講演会)
- 放射光を用いたGA合金化反応のその場観察
- 23aTH-3 アモルファス半導体In-Ga-Zn-O膜の構造と伝導(液体・アモルファス・その他,領域6,金属,超低温,超伝導・密度波)
- 交流磁場印加による電磁鋼板中の磁壁挙動のローレンツ顕微鏡観察
- 放射光を利用する水熱環境下での in-situ X 線回折法の開発とトバモライト生成反応への応用
- 特集「先端試料作製技法と分析電子顕微鏡法による材料評価」によせて
- 透過電子顕微鏡によるステレオ観察の計測精度
- ディジタルデータを活用した高分解能電顕像の定量解析と電顕画像データベースの構築
- ディジタル電顕画像を利用したデータベースの構築
- 形態評価研究分野 (1997.1-1997.12)(研究活動報告)
- 電子顕微鏡画像データベース「えみりあ (EMILIA)」の構築
- 形態評価研究分野 (1998.1-1998.12) (研究活動報告)
- 電顕画像データベースえみりあ(EMILIA)の紹介
- 形態評価研究分野 (1996. 1-1996. 12) (研究活動報告)
- 素材研ネットワークシステムの概要とその活用形態
- 電子顕微鏡用イメージングプレートの特性評価と形態評価研究への応用
- 電子顕微鏡用イメ-ジングプレ-トの特性と電子線画像の定量計測 (特集 輝尽発光(PSL)と放射線計測の進展望--メカニズムと新しい応用)
- 電子顕微鏡用イメージングプレートのDQE特性の評価
- 形態評価研究分野 (1995. 1-1995. 12)(研究活動報告)
- 23aTA-9 カーボンナノウォールの成長機構と構造(23aTA 領域7,領域10合同 ナノチューブ・グラファイトにおける欠陥,領域7(分子性固体・有機導体))
- 高炭素冷延鋼板におけるセメンタイトの黒鉛化に及ぼす C, P 量の影響
- 高温高圧水蒸気下でのX線回折による軽量気泡コンクリート生成過程の解析
- PC05 薄膜の屈折率異方性の高速測定方法(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)
- アルカリ金属をインターカレートしたC_の^C-NMR
- C60超伝導体におけるscおよびfcc相の状態密度
- 29a-J-11 Li2AC60(A=CsおよびRb)の構造と電子物性
- 29a-J-7 A_1C_60(A=Rb, Cs)のNMR
- 29a-WB-8 C_化合物中の分子運動
- 29a-WB-3 アルカリC60(A3C60)固体の電子状態
- 13p-B-4 A_xB_C_結晶中でのC_分子の方向
- 13p-B-3 アルカリ金属ドープC60物質におけるf.c.c.構造の格子定数
- 29a-C-5 A_xB_C_の構造
- 原子スケールで平坦なSiO_2/Si酸化膜界面歪の評価(プロセス科学と新プロセス技術)
- 23aTG-12 カーボンナノウォールの成長過程と構造(ナノチューブ・グラフェンにおける欠陥,領域7,領域10合同講演,領域7,分子性固体・有機導体)
- Ni基合金の粒界炭化物析出とCr-depletion zone の解析
- 22aTD-4 カーボンナノウォールの成長過程と構造評価(格子欠陥・ナノ構造(炭素・ナノ構造),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
- 可視および赤外分光エリプソメトリーによる液晶配向膜の異方性測定
- 放射光利用の基礎と SPring-8 : 工業材料への利用を中心にして
- 液晶配向膜の表面異方性
- ラビングしたポリイミド膜のイミド化率と分子配向がネマティック液晶のプレティルト角に与える影響
- 5a-D4-3 電子散乱のfocusing
- 29p-ZB-1 回折XAFS-"DAFS"-
- SR-X線で見た半導体界面の再配列構造
- 5P-E-4 Molecular Beam Deposition SiO_2/Si(111)の再配列構造
- 26a-P-9 a-Si/Si(111)-7x7,a-Si/Ge_Si_(111)-5x5 の界面超構造
- 1p-C-6 A_2B C_のアルカリイオンの位置選択性についての考察
- 29a-J-8 アルカリドープC_602価化合物:NaCsC_60
- 多入射方位による光学異方性物質の反射偏光同時測定
- 溶融亜鉛めっき合金化反応に及ぼす母材焼鈍温度の影響
- XPSによる酸化物/高分子の界面相互作用の分析
- 計装化ウルトラミクロトームによる金属材料の機械的特性評価
- 放射光を用いたその場観察手法による溶融亜鉛めっき鋼板合金化反応の定量解析
- マルテンサイト系ステンレス鋼の溶接熱影響部における粒界Cr欠乏層のTEM/EDS分析
- ディジタル画像保存考(JPEGが「最良の選択」?)
- 3-2b ラビング処理条件による液晶配向膜の膜構造変化とプレチルト角の関係
- 2PC17 偏光計測によるTNセルの平均的TBA測定
- 2PC02 配向膜高速広範囲評価法の検討
- PCb01 透過光偏光解析によるツイスト角及びセルギャップ測定法の検討
- PCa02 TFTパネル1画素以上の空間分解能をもつ液晶配向膜評価技術
- PCa01 実パネル上配向膜の光学的異方性測定成功
- PCb01 赤外エリプソメトリによる配向膜評価の検討
- 3A02 反射光偏光異方性測定によるポリイミド分子配向のラビング強度依存性の測定
- 電子顕微鏡用イメージングプレートの特性と電子線画像の定量計測
- 世界最大の放射光施設 SPring-8
- 微小角入射X線回折法を用いたSiO_2薄膜中の結晶相の評価(プロセス科学と新プロセス技術)