C-12-9 SRAMのAC電源変動に対する不良応答と素子ばらつきの影響(C-12.集積回路)
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概要
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- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2013-03-05
著者
-
永田 真
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
新居 浩二
ルネサスエレクトロニクス株式会社
-
澤田 卓也
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
吉川 薫平
神戸大学大学院システム情報学研究科
-
新居 浩二
ルネサスエレクトロニクス
-
高田 英裕
ルネサスエレクトロニクス株式会社
-
永田 真
神戸大学大学院システム情報学研究科情報科学専攻
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