Raman Scattering Studies on Hydrogenated Amorphous Silicon Prepared under High Deposition Rate Conditions
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 1985-06-20
著者
-
林 康明
京都工芸繊維大学大学院
-
林康 明
京都工芸繊維大学工芸学部電子情報工学科
-
林 康明
京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科
-
Hayashi Yuzo
Irie Koken Co. Ltd.
-
Sakata I
National Inst. Advanced Industrial Sci. And Technol. (aist) Ibaraki Jpn
-
Sakata Isao
Device Synthesis Section Electrotechnical Laboratory
-
Sakata Isao
Electron Devices Division Electrotechnical Laboratory
-
SAKATA Isao
Semiconductor Device Section, Electrotechnical Laboratory
-
HAYASHI Yutaka
Semiconductor Device Section, Electrotechnical Laboratory
-
YAMANAKA Mitsuyuki
Semiconductor Device Section, Electrotechnical Laboratory
-
OKAZAKI Satoru
Semiconductor Device Section, Electrotechnical Laboratory
-
OKAZAKI Shoji
Department of Electronic Engineering, Faculty of Engineering, Osaka University
-
Okazaki S
Osaka Univ. Osaka Jpn
-
Yamanaka M
Electron Devices Division Electrotechnical Laboratory
-
Yamanaka Mitsuyuki
Semiconductor Device Section Electrotechnical Laboratory
-
Hayashi Yutaka
Semiconductor Device Section Electrotechnical Laboratory
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