Interface Study on GaAs-on-Si by Transmission Electron Microscopy : Surfaces, Interfaces and Films
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 1988-03-20
著者
-
Nozaki Chiharu
Research And Development Center Toshiba Corporation
-
NARITSUKA Shigeya
Research and Development Center, Toshiba Corporation
-
Kokubun Yoshihiro
Research And Development Center Toshiba Corporation
-
Kokubun Yoshihiro
Research & Development Center Toshiba Corporation
-
Yasuami Shigeru
Research And Development Center Toshiba Corporation
-
Naritsuka Shigeya
Research And Development Center Toshiba Corporation
-
成塚 重弥
名城大学大学院理工学研究科
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