Computer Simulation and Experimental Characterization of Single Electron Transistors Based on Schottky Wrap Gate Control of 2DEG
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概要
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- 社団法人応用物理学会の論文
- 1998-03-30
著者
-
葛西 誠也
Research Center For Integrated Quantum Electronics And Graduate School Of Information Science And Te
-
HASEGAWA Hideki
Research Center for Integrated Quantum Electronics (RCIQE), Hokkaido University
-
KASAI Seiya
Research Center for Integrated Quantum Electronics (RCIQE), Hokkaido University
-
Satoh Yoshihiro
Division of Pathology, Isehara Kyodo Hospital
-
Satoh Yoshihiro
Research Center For Interface Quantum Electronics And Graduate School Of Electronics And Information
-
Satoh Yoshihiro
Mitsubishi Electric Corporation
-
JINUSHI Kei-ichiroh
Research Center for Interface Quantum Electronics and Graduate School of Electronics and Information
-
Jinushi Kei-ichiroh
Research Center For Interface Quantum Electronics And Graduate School Of Electronics And Information
-
Satoh Y
Tokyo Inst. Technol. Tokyo Jpn
-
Satoh Y
Division Of Pathology Isehara Kyodo Hospital
-
Hasegawa Hideki
Research Center for Integrated Quantum Electronics (RCIQE) and Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University, North 13, West 8, Kita-ku, Sapporo 060-8628, Japan
-
Kasai Seiya
Research Center for Integrated Quantum Electronics (RCIQE) and Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University, North 13, West 8, Sapporo 060-8628, Japan
-
Satoh Yoshihiro
Research Center for Interface Quantum Electronics and Graduate School of
-
Jinushi Kei-ichiroh
Research Center for Interface Quantum Electronics and Graduate School of
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