23pWA-13 第一原理電荷解析によるシリコン表面異常拡散現象の研究
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2000-09-10
著者
-
諏訪 雄二
日立基礎研
-
平家 誠嗣
日立基礎研
-
橋詰 富博
日立基礎研
-
平家 誠嗣
株式会社日立製作所基礎研究所
-
一杉 太郎
東北大WPI-AIMR
-
橋詰 富博
東北大WPI-AIMR
-
渡邊 聡
東大工
-
小野木 敏之
日立基礎研
-
松浦 志のぶ
東大工
-
一杉 太郎
東大工
-
平家 誠嗣
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