平家 誠嗣 | 日立中研
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概要
関連著者
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平家 誠嗣
株式会社日立製作所基礎研究所
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平家 誠嗣
日立中研
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橋詰 富博
東北大WPI-AIMR
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平家 誠嗣
日立基礎研
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橋詰 富博
日立基礎研
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藤森 正成
日立中研
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諏訪 雄二
日立基礎研
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一杉 太郎
東北大WPI-AIMR
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石橋 雅義
日立製作所 基礎研究所
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藤森 正成
日立基礎研
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原田 武
株式会社日立製作所基礎研究所
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石井 美恵子
株式会社日立製作所機械研究所
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伊藤 耕三
東京大学大学院新領域創成科学研究科物質系専攻
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伊藤 耕三
東大 大学院新領域創成科学研究科
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石橋 雅義
日立製作所基礎研究所
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伊藤 耕三
東京大学大学院新領域創成科学研究科
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藤森 正成
日立製作所基礎研究所
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加藤 美登里
日立製作所基礎研究所
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平家 誠嗣
日立製作所基礎研究所
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下村 武史
東京大学大学院新領域創成科学研究科
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小池 和幸
日立 基礎研
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梶山 博司
日立 基礎研
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梶山 博司
日立
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梶山 博司
(株)日立製作所基礎研究所
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下村 武史
東京農工大学大学院共生科学技術研究院
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小池 和幸
産業技術総合研究所つくば中央第4事業所アトムテクノロジー研究体:産業技術総合研究所強相関電子技術研究センター:日立製作所中央研究所
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新井 唯
日立中研
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寺田 康彦
日立基礎研
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松浦 志のぶ
東大工
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宇田 毅
アドバンスソフト
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平家 誠嗣
日立・基礎研
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牛山 崇幸
上智大理工
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橋詰 富博
日立中研:東工大:東北大wpi-aimr
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岩楯 裕介
東工大
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牛山 崇幸
東工大
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久保田 俊介
東工大
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井上 遥介
東工大
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伊藤 耕三
東京大学大学院 新領域創成科学研究科
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宇田 毅
(株)ASMS
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一杉 太郎
東北大WPI
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北上 修
東北大学多元物質科学研究所
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大野 英男
東北大通研
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森下 英郎
日立中研
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伊藤 耕三
東大新領域
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橋詰 富博
日立製作所基礎研究所
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赤井 智紀
東京大学大学院新領域創成科学研究科
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橋詰 富博
株式会社日立製作所基礎研究所
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加藤 美登里
株式会社日立製作所基礎研究所
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石橋 雅義
株式会社日立製作所基礎研究所
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加藤 弘一
(株)東芝研究開発センター新機能材料・デバイスラボラトリー
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橋詰 富博
(株)日立製作所基礎研究所
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渡邊 聡
東大工
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島田 寛
東北大学大学院工学研究科
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市村 雅彦
日立基礎研
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小野木 敏之
日立基礎研
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小池 和幸
北大理
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高橋 宏昌
(株)日立製作所ストレージテクノロジー研究センタ
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中村 公夫
日立製作所中央研究所
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早川 純
(株)日立製作所基礎研究所
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池田 正二
東北大学電気通信研究所
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大野 英男
東北大学電気通信研究所
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宇田 毅
日立基礎研
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平家 誠嗣
(株)日立製作所基礎研究所
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内山 登志弘
産業技術融合領域研究所アトムテクノロジー研究体
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宇田 毅
産業技術融合領域研究所アトムテクノロジー研究体
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来田 歩
名大
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松井 正顯
名大
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平山 義幸
日立製作所 中央研究所
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松井 正顯
名大工
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早川 純
(株)日立製作所基礎研究所:東北大学電気通信研究所
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早川 純
日立製作所基礎研究所
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梶山 博司
日立日立研
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島田 寛
東北大
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早川 純
日立製作所 基礎研究所
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石橋 雅義
日立 基礎研
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石井 美恵子
日立製作所 基礎研究所
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原田 武
日立製作所 基礎研究所
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萩野谷 千積
日立
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吉村 俊之
日立
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山本 治朗
日立
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平山 義幸
日立製作所中央研究所
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萩野谷 千積
日立中研
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中村 公夫
日立 中研
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中村 公夫
日立
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森下 英郎
日立中研:東大新領域
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高橋 宏昌
(株)日立製作所基礎研究所
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平山 義幸
日立 中研
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来田 歩
名古屋大学大学院工学研究科
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早川 純
日立基礎研
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高橋 宏昌
日立基礎研
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伊藤 顕知
日立ケンブリッジ研究所
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池田 正二
東北大通研
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伊藤 耕三
東京大学
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伊藤 顕知
(株)日立製作所基礎研究所
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池田 正二
東北大学電気通信研究所ナノ・スピン実験施設
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高橋 宏昌
(株)日立製作所研究開発本部
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市村 雅彦
東北大金研:日立基礎研
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一杉 太郎
東大工
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橋詰 富博
日立・基礎研
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加藤 弘一
(株)東芝研究開発センターlsi基盤技術ラボラトリー
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原田 武
日立製作所
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Matsui M
Department Of Materials Science And Engineering Nagoya University
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来田 歩
(株)日立基礎研
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平家 誠嗣
機械研究所
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原田 武
基礎研究所
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北上 修
東北大 多元研
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伊藤 耕三
東大院・新領域・物質系
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早川 純
日立 中研
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早川 純
日立 基礎研
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大野 英男
東北大学 電気通信研究所 ナノ・スピン実験施設
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伊藤 顕知
(株)日立製作所 基礎研究所
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池田 正二
東北大学 電気通信研究所 ナノ・スピン実験施設
-
大野 英男
東北大学電気通信研究所東北大省エネルギー・スピントロニクス集積化システムセンター
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橋詰 富博
(株)日立製作所中央研究所
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高橋 宏昌
日立製作所ST研究センター
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平山 義幸
日立
著作論文
- 22aTB-8 第一原理計算による絶縁膜・有機半導体界面の単分子膜の研究(22aTB 有機FET1,領域7(分子性固体・有機導体))
- SPMを用いた卓上微細加工装置とその応用(SPMを用いた微細加工)
- 分子ナノチューブを用いた分子被覆導線
- シリコン表面の未結合ボンドでの初期酸化反応
- Feナノワイヤーアレイの作製と磁気抵抗効果
- 原子間力顕微鏡のカンチレバーを用いた摩耗試験(S51-4 トライボロジーの基礎と応用(IV),S51 トライボロジーの基礎と応用)
- パターンドメディアの作製および磁気特性の評価
- 21aRB-12 第一原理計算による金属・有機半導体界面の機能性単分子膜の研究(有機FET1,領域7,分子性固体・有機導体)
- 21pRJ-3 第一原理計算による金属・有機半導体界面の自己組織化単分子膜の研究(有機FET2,領域7,分子性固体・有機導体)
- 21pYE-13 水素終端Si表面上の導電性高分子の電子状態(表面・界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 走査型トンネル顕微鏡が捉えるナノメータスケール構造の時間変化
- 交換バイアス型スピンバルブ素子のスピントルク磁化反転
- 28pWP-4 第一原理計算による水素終端Si(100)面のダイハイドライド鎖の研究(表面界面構造(半導体))(領域9)
- 走査プローブ微細加工法による極微細電極の調整と高分子ナノワイヤの電気伝導度測定
- 31aWD-5 水素終端 Si 表面におけるドーバントペア構造の量子効果
- 23pWA-13 第一原理電荷解析によるシリコン表面異常拡散現象の研究
- 3052 原子間力顕微鏡のプローブを用いた通電試験(S81-3 トライボロジーの基礎と応用(3),S81 トライボロジーの基礎と応用)
- 5205 原子間力顕微鏡のカンチレバーを用いた摩耗試験(第3報)(S65-2 摩耗,S65 トライボロジーの基礎と応用)
- 2921 原子間力顕微鏡のカンチレバーを用いた摩耗試験(第2報)(S64-2 トライボロジーの基礎と応用(2),S64 トライボロジーの基礎と応用)
- 23pGE-6 半導体、金属、誘電体界面の顕微評価の重要性(23pGE 領域10,領域8合同シンポジウム:超低速ミュオン顕微鏡:その限りない可能性を探る,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
- 23pGE-6 半導体、金属、誘電体界面の顕微評価の重要性(23pGE 領域10,領域8合同シンポジウム:超低速ミュオン顕微鏡:その限りない可能性を探る,領域8(強相関系:高温超伝導,強相関f電子系など))