電位分布測定用導電性AFM探針と有機半導体間の接触抵抗評価
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概要
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- 2008-06-20
著者
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酒井 正俊
千葉大学工学部
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中村 雅一
千葉大学工学部
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工藤 一浩
千葉大学工学部
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坂井 祐貴
千葉大学工学部電子機械工学科
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杉田 吉隆
名古屋工業大学院工学研究科
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鈴木 貴仁
名古屋工業大学院工学研究科
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中山 泰生
千葉大学大学院融合科学研究科
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石井 久夫
千葉大学大学院融合科学研究科
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種村 眞幸
名古屋工業大学都市循環システム工学科
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種村 眞幸
名古屋工業大学 大学院工学研究科 未来材料創成工学専攻
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種村 眞幸
名古屋工業大学
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