ECR-MBE法によるLiGaO_2基板上GaNの表面形態の評価
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概要
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- 1997-09-09
著者
-
名西 〓之
立命館大学 理工学部
-
名西 〓之
立命館大学
-
石井 隆生
NTTシステムエレクトロニクス研究所
-
宮澤 信太郎
NTTシステムエレクトロニクス研究所
-
岡田 誠
立命館大学
-
檜垣 幸弘
立命館大学
-
柳 隆之
立命館大学
-
宮澤 信太郎
早大
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