鳥居 和功 | 半導体先端テクノロジーズ(Selete)
スポンサーリンク
概要
関連著者
-
鳥居 和功
半導体先端テクノロジーズ(Selete)
-
鳥居 和功
日立製作所中央研究所
-
上殿 明良
筑波大数理
-
上殿 明良
筑波大学電子物理工学系
-
樋口 恵一
筑波大学電子・物理工学専攻
-
後藤 正和
筑波大学電子・物理工学専攻
-
上殿 明良
筑波大学・物理工学系
-
川原 孝昭
(株)ルネサス テクノロジ、生産本部、ウエハプロセス技術統括部
-
川原 孝昭
(株)ルネサステクノロジ
-
廣瀬 和之
総合研究大学院大学
著作論文
- 低速陽電子ビームを用いた high-κ 膜の空隙評価
- HfAlOxゲート絶縁膜をもつMOSキャパシタの過渡的電気特性(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- XPS/AESによるHfSiOx薄膜の光学的誘電率の推定(ゲート絶縁膜, 容量膜, 機能膜及びメモリ技術)
- XPS時間依存測定法によるHfAlOx薄膜中の電荷捕獲現象の評価(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)