石川 靖彦 | Research Institute Of Electronics Shizuoka University

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概要

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• 同名の論文著者
• Research Institute Of Electronics Shizuoka Universityの論文著者

関連著者

• 石川 靖彦

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• 田部 道晴

  静岡大学電子工学研究所

• 石川 靖彦

  静岡大学電子工学研究所

• 池田 浩也

  静岡大学電子工学研究所

• Ikeda H

  National Laboratory For High Energy Physics

• Ishikawa Y

  Dowa Mining Co. Ltd. Tokyo

• Ishikawa Y

  Department Of Electrical And Electronics Engineering Nippon Institute Of Technology

• Ishikawa Y

  Hokkaido Univ. Sapporo Jpn

• Ikeda Hiroya

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• ヌルヤディ ラトノ

  静岡大学電子工学研究所

• Ishikawa Y

  Research Center For Interface Quantum Electronics And Graduate School Of Electronics And Information

• Nuryadi Ratno

  Department Of Physics Faculty Of Science Shizuoka University

• Tabe Michiharu

  Ntt Lsi Laboratories:(present Address)research Institute Of Electronics Shizuoka University

• TABE Michiharu

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• ISHIKAWA Yasuhiko

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• Nuryadi Ratno

  Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn

• 土屋 敏章

  島根大学 総合理工学部

• 長田 浩平

  静岡大学電子工学研究所

• Tabe Michiharu

  Research Institue Of Electronics Shizuoka University

• Nuryadi Ratno

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Ishikawa Yasuhiko

  Research Center For Interface Quantum Electronics And Graduate School Of Electronics And Information

• 今井 泰宏

  静岡大学電子工学研究所

• 岩崎 正憲

  静岡大学電子工学研究所

• 土屋 敏章

  島根大学総合理工学部

• 石原 大阿

  静岡大学電子工学研究所

• 田部 道晴

  静岡大学 電子工学研究所

• 石田 誠

  豊橋技術科学大学電気・電子工学系

• 澤田 和明

  豊橋技術科学大学電気・電子工学系

• 石田 誠

  豊橋技術科学大学

• 澤田 和明

  豊橋技術科学大学

• Nuryadi Ratno

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• Ono Yukinori

  Ntt Basic Research Laboratories Nippon Telegraph And Telephone Corporation

• ラトノ ヌルヤディ

  静岡大学電子工学研究所

• 水野 武志

  静岡大学電子工学研究所

• Tsuchiya T

  National Inst. Advanced Industrial Sci. And Technol. Ibaraki Jpn

• ヌルヤデイ ラトノ

  静岡大学電子工学研究所

• Tsuchiya T

  Department Of Electronics Doshisha University

• 山本 智寛

  静岡大学電子工学研究所

• Tsuchiya Toshiharu

  Faculty Of Engineering Shizuoka University

• Tsuchiya Takenobu

  Department Of Electrical Electronics And Information Engineering Kanagawa University

• 澤田 和明

  豊橋科学技術大学電気工学系

• 石田 誠

  豊橋科学技術大学電気工学系

• Nagase Masao

  Ntt Basic Research Laboratories

• MORARU Daniel

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• Ono Yukinori

  NTT Basic Research Laboratories

• HORIGUCHI Seiji

  Department of Electrical and Electronic Engineering, Akita University

• KATO Hiroshi

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• YAMAUCHI Kazuaki

  Research Institute of Electronics, Shizuoka University

• Ono Yukinori

  Ntt Basic Research Laboratories Ntt Cornoration

• Nuryadi Ratno

  Research Institue Of Electronics Shizuoka University

• Ishikawa Yasuhiko

  1research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Yamauchi Kazuaki

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Horiguchi Seiji

  Department Of Electrical And Electronic Engineering Akita University

• Nagase M

  Ntt Basic Research Laboratories Ntt Corporation

• Moraru Daniel

  Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn

• 土屋 敏章

  島根大学総合理工学部電子制御システム工学科

• NURYADI Ratno

  静岡大学電子工学研究所

• 川崎 隆弘

  静岡大学電子工学研究所

• 上村 崇史

  静岡大学電子工学研究所

• 石川 靖彦

  静岡大学 電子工学研究所

• 杉木 幹生

  静岡大学電子工学研究所

• 石川 靖彦[他]

  静岡大学電子工学研究所

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著作論文

• Si/SiO_2共鳴トンネル構造におけるSi井戸層のドット化効果(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
• Fowler-Nordheim Current Oscillations in Si(111)/SiO_2/Twisted-Si(111) Tunneling Structures
• Current fluctuation in single-hole transport through a two-dimensional Si multidot
• Formation of Nanometer-Scale Dislocation Network Sandwiched by Silicon-on-Insulator Layers
• Charge polarization effect on single-hole-characteristics in a two-dimensional Si multidot structure
• Photoinduced Effects on Single-Charge Tunneling in a Si Two-Dimensional Multidot Field-Effect Transistor
• Ambipolar Coulomb Blockade Characteristics in a Two-Dimensional Si Multidot Device
• Resonant tunneling characteristics in SiO₂/Si double-barrier structures in a wide range of applied voltage
• Si/SiO_2共鳴トンネル構造におけるSi井戸層のドット化効果(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
• Si/SiO_2共鳴トンネル構造におけるSi井戸層のドット化効果(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
• シリコン多重ドット構造における単電子伝導の光応答特性(半導体Si及び関連材料・評価)
• 極薄SOI構造の熱凝集現象とパターニングの効果(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
• シリコン量子井戸構造の作製と評価
• シリコン量子井戸構造の作製と評価
• シリコン量子井戸構造の作製と評価
• Si多重ドット構造における単一フォトン誘起ランダム・テレグラフ・シグナル(単電子/単光子検出とマニピュレーション)
• 人工転位網を内包したSOI構造を用いたシリコンナノデバイス(多量量子ドットと機能性)
• Si多重ドット構造における単一フォトン誘起ランダム・テレグラフ・シグナル(単電子/単光子検出とマニピュレーション)
• 人工転位網を内包したSOI構造を用いたシリコンナノデバイス(多量量子ドットと機能性)
• Single-photon-induced random telegraph signal in a two-dimensional multiple-tunnel-junction array
• Thermally-induced formation of Si wire array on an ultrathin (111) silicon-on-insulator substrate
• 極薄SOI構造の熱凝集現象とパターニングの効果(結晶成長評価およびデバイス(化合物, Si, SiGe, その他の電子材料))
• 極薄SOI構造の熱凝集現象とパターニングの効果(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
• 極薄SOIを用いたシリコンナノ構造デバイス
• シリコンナノ構造の KFM による電位測定
• シリコンナノ構造からの電子の電界放出
• シリコン多重ドット構造における単電子伝導のシミュレーション解析と光照射効果への適用
• Siナノ構造における電界集中とトンネル電流
• Siナノ構造における電界集中とトンネル電流

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