ヌルヤディ ラトノ | 静岡大学電子工学研究所

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概要

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• 同名の論文著者
• 静岡大学電子工学研究所の論文著者

関連著者

• ヌルヤディ ラトノ

  静岡大学電子工学研究所

• 田部 道晴

  静岡大学電子工学研究所

• 石川 靖彦

  静岡大学電子工学研究所

• 石川 靖彦

  Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• 池田 浩也

  静岡大学電子工学研究所

• Tabe Michiharu

  Ntt Lsi Laboratories:(present Address)research Institute Of Electronics Shizuoka University

• Ikeda H

  National Laboratory For High Energy Physics

• 田部 道晴

  静岡大学 電子工学研究所

• Tabe M

  Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn

• 今井 泰宏

  静岡大学電子工学研究所

• ブルハヌディン ザイナル

  静岡大学電子工学研究所

• ブルハヌディン ザイナル

  Research Institue Of Electronics Shizuoka University

• NURYADI Ratno

  静岡大学電子工学研究所

• 石川 靖彦[他]

  静岡大学電子工学研究所

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著作論文

• シリコン多重ドット構造における単電子伝導の光応答特性(半導体Si及び関連材料・評価)
• Si単電子FETによるフォトン検出(第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
• Si単電子FETによるフォトン検出(第15回先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア・太平洋ワークショップ(AWAD2007))
• Si多重ドット構造における単一フォトン誘起ランダム・テレグラフ・シグナル(単電子/単光子検出とマニピュレーション)
• Si多重ドット構造における単一フォトン誘起ランダム・テレグラフ・シグナル(単電子/単光子検出とマニピュレーション)
• 極薄SOI構造の熱凝集現象とパターニングの効果(結晶成長評価およびデバイス(化合物, Si, SiGe, その他の電子材料))
• 極薄SOI構造の熱凝集現象とパターニングの効果(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
• シリコン多重ドット構造における単電子伝導のシミュレーション解析と光照射効果への適用

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