宮下 俊彦 | (株)富士通研究所
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概要
関連著者
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宮下 俊彦
(株)富士通研究所
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山本 智彦
富士通株式会社
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金 永ソク
(株)富士通研究所
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(株)富士通研究所
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(株)富士通研究所 Ulsi研究部門
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株式会社東芝セミコンダクター社
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株式会社東芝セミコンダクター社 SoC研究開発センター
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田中 正幸
株式会社東芝セミコンダクター社
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池田 圭司
半導体miraiプロジェクト 技術研究組合 超先端電子技術開発機構(mirai-aset)
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赤坂 泰志
株式会社東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター
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宮下 俊彦
富士通研究所
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新田 博行
株式会社東芝セミコンダクター社
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chou P.H.
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橋本 浩一
富士通研究所
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田中 徹
富士通研究所
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奈良 安雄
富士通研究所
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橋本 浩一
富士通
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吉田 英司
(株)富士通研究所シリコンテクノロジ研究所
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幸山 裕亮
株式会社東芝セミコンダクター社
著作論文
- トランジスタ領域毎に最適化された複数歪技術を用いる45nm高性能・低リークバルクロジックプラットフォーム技術(IEDM(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- トランジスタ領域毎に最適化された複数歪技術を用いる45nmノード高性能・低リークバルクロジックプラットフォーム技術
- 大容量メモリ混載システムLSI用低温プロセスの開発(先端CMOS及びプロセス関連技術)
- キャパシタレス1T-DRAMのスケーラビリティ : ダブルゲートFinDRAMの提案(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))